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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
NanoFocus kauft SISCAN-Technologie09. November 2009 - Der Messtechnikhersteller NanoFocus AG hat den Geschäftsbereich SISCAN der Siemens Electronics Assembly Systems GmbH & Co. KG übernommen. Die patentierte Konfokaltechnik, die von NanoFocus weitergeführt und -entwickelt wird, ergänzt hervorragend die bestehende Technologieplattform. Auf der Industriemesse Productronica in München wird das 3D-Inline-Inspektionssystem erstmals unter neuem Namen vorgestellt. Die SISCAN-Technologie arbeitet mit dem schnellsten konfokalen Sensor der Welt. Mit mehr als einer Million Messungen pro Sekunde ist sie die ideale Lösung für Inline-Messaufgaben in der Produktion. Das flexible Konfokalsystem ist dabei für eine große Bandbreite von Anwendungen geeignet, besonders etwa für die 3D-Forminspektion, die Bump-Inspektion auf Wafern und Substraten sowie für die Inspektion von Laserschweißungen. In der Praxis hat sich die Technologie bei zahlreichen Kunden in Produktion und Forschung bewährt. Mit dem Geschäftsbereich SISCAN gehen neben Schutzrechten und Know-How auch Lager und Fertigungseinrichtungen auf die NanoFocus AG über. Durch die technologische Verwandtschaft zu den bisherigen NanoFocus-Produkten ist die Aufnahme der Produktion am Standort Oberhausen sowie die Übernahme des Vertriebs schnell und effektiv möglich. Besonderen Wert legen sowohl Siemens als auch die NanoFocus AG auf die weiterhin professionelle und optimale Betreuung bestehender Anwender der SISCAN-Technologie, die zukünftig durch den NanoFocus-Kundenservice erfolgen wird. Nach der erfolgreichen Integration plant NanoFocus, die neue Sensor-Reihe auszubauen und weiterzuentwickeln. „Wir wollen das große Potenzial der zukunftsträchtigen Technologie komplett ausschöpfen", erklärt Dr. Hans Hermann Schreier, Vorstandsvorsitzender der NanoFocus AG. „Mit weiteren Leistungssteigerungen und neuen Anwendungen ist es unser Ziel, internationale Märkte für die Wachstumsbranchen Medizintechnik, Solar und Cleantech zu erschließen." www.nanofocus.deWeitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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