|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
National Instruments präsentiert neue FlexRIO Adaptermodule01. Juli 2013 – National Instruments erweitert das I/O-Portfolio, der auf rekonfigurierbarer FPGA I/O-Technologie (RIO) beruhenden Produktfamilie NI FlexRIO auf mehr als 20 Adaptermodule. Sechs neue Adaptermodule bieten neue I/O-Optionen, darunter Digitizer, Signalgeneratoren, sowie ZF- und RF-Transceiver. Anwender kombinieren die NI-FlexRIO-Adaptermodule mit anwenderprogrammierbaren FPGAs und können damit beinahe jede Prüfanwendung durchführen. Dies reicht von der Spektrum-Überwachung in Echtzeit und RF-Modulation/-Demodulation bis hin zur Informationsgewinnung aus Signalen (SIGINT) und der Prototypenerstellung von RF-Kommunikationssystemprotokollen. Da die Module von der Parallelität und der Datenflussprogrammierung der NI-LabVIEW-RIO-Architektur profitieren, können sie von Anwendern auch ohne Kenntnisse in der Hardwarebeschreibung einfach angesteuert werden. Die Kombination aus NI FlexRIO, der Systemdesignsoftware LabVIEW und dem Zugang zu mehr als 600 modularen PXI-Messgeräten von NI geben Anwendern eine kommerzielle Standardlösung (COTS) an die Hand, die mithilfe von FPGA-Technologie benutzerdefiniert angepasst werden kann. „Unsere aktuellen Investitionen in anwenderprogrammierbare FPGA-Messgeräte werden nicht nur durch die neuen NI-FlexRIO-Adaptermodule veranschaulicht, sondern auch durch den Vektorsignal-Transceiver NI PXIe-5645R. Sie belegen deutlich unsere Vision der neu definierten Messtechnik“, erklärt Charles Schroeder, Director of Test Systems bei NI. „Die NI-FlexRIO-Plattform ermöglicht es Kunden dank der NI-LabVIEW-RIO-Architektur, einige der leistungsstärksten Test-, Forschungs- und Embedded-Systeme zu erstellen.“ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |