|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Kompakte VNAs für Fequenzbereich von 20 kHz bis 4,8 GHz20. Mai 2020 – Copper Mountain Technologies ist auf die Entwicklung und Herstellung von USB-Vektor-Netzwerk-Analysatoren spezialisiert. Die Produktpalette umfasst Vektor-Netzwerk-Analysatoren, Kalibrierkits und Zubehör für Impedanzen von 50 und 75 Ohm. Die VNAs werden über einen externen Computer, PC oder Tablet gesteuert, die Software-Applikation (für Windows- oder Linux-Betriebssysteme) ist fester Bestandteil der Geräte. Die VNA-Serien TR, S, M und SC bieten Leistung auf Laborniveau in einem sehr kompakten Gehäuse. Standardmäßig enthaltene Funktionen sind Zeitbereichs- und Gate-Konvertierung, segmentierte Frequenz-Sweeps, lineare / logarithmische Sweeps, Power-Sweeps, mehrere Trace-Formate, max. 16 Kanäle mit jeweils bis zu 16 Spuren, Marker-Mathematik und Limit-Tests. Verbunden werden die externen Geräte über eine USB-Schnittstelle mit der Messhardware. Die Software-Applikation (für Windows- oder Linux-Betriebssystem) ist fester Bestandteil der VNAs und kann kostenlos von der Website des Herstellers heruntergeladen werden. Außerdem lässt sie sich auf mehrere Computer installieren, was die gemeinsame Nutzung des Analysator-Messmoduls erleichtert. Die Software nimmt die erfassten Mess-Rohdaten aus dem VNA-Modul und rechnet sie mithilfe von proprietären Algorithmen in S-Parameter um, die dann in verschiedenen Formen dargestellt werden. Die VNAs der Compact-Serie bieten Laborleistung im kompakten Gehäuse und mit allen Funktionen, auf die Ingenieure Wert legen: Zeitbereichs- und Gate-Konvertierung, segmentierte Frequenz-Sweeps, lineare / logarithmische Sweeps, Power-Sweeps, mehrere Trace-Formate, max. 16 Kanäle mit jeweils bis zu 16 Spuren, Marker-Mathematik und Limit-Tests. Die kompakten und tragbaren Kompaktanalysatoren von Copper Mountain Technologies können mit Batterien betrieben werden und eignen sich ideal für Labor- und Produktionstests in einer Vielzahl von Branchen, beispielsweise Design und Produktion von HF-Komponenten, Kabel-CPEs, Medizinprodukte oder auch Luft- und Raumfahrt. Die VNAs der TR-Serie sind als 50- oder 75-Ohm-Modell erhältlich. Sie haben einen Frequenz-Bereich von 20 kHz - 4.8 GHz und eine große Einstell-Rate der Ausgangsleistung von -50 dBm bis +5 dBm. Der Dynamik-Bereich liegt bei typ. 125 dB (10 Hz IF Bandbreite). Die Mess-Geschwindigkeit/Mess-Zeit pro Punkt beträgt mindestens 70 µs und es werden bis zu 200,001 Messpunkte gescannt. Die VNAs der S-Serie sind als 50- oder 75-Ohm-Modell erhältlich. Sie haben einen Frequenz-Bereich von 9 kHz - 18 GHz und eine große Einstell-Rate der Ausgangsleistung von -50 dBm bis +10 dBm. Der Dynamik-Bereich liegt bei typ. 135 dB (10 Hz IF Bandbreite). Die Mess-Geschwindigkeit/Mess-Zeit pro Punkt beträgt mindestens 30 µs und es werden bis zu 200,001 Messpunkte gescannt. Die VNAs der M-Serie sind als 50-Ohm-Modell erhältlich. Sie haben einen Frequenz-Bereich von 300 kHz - 18 GHz und eine große Einstell-Rate der Ausgangsleistung von -55 dBm bis +5 dBm. Der Dynamik-Bereich liegt bei typ. 130 dB (10 Hz IF Bandbreite). Die Mess-Geschwindigkeit/Mess-Zeit pro Punkt beträgt mindestens 70 µs und es werden bis zu 200,001 Messpunkte gescannt. Die VNAs der SC-Serie sind als 50-Ohm-Modell erhältlich. Sie haben einen Frequenz-Bereich von 300 kHz - 9 GHz und eine große Einstell-Rate der Ausgangsleistung von -45 dBm bis +15 dBm. Der Dynamik-Bereich liegt bei typ. 140 dB (10 Hz IF Bandbreite). Die Mess-Geschwindigkeit/Mess-Zeit pro Punkt beträgt mindestens 16 µs und es werden bis zu 500,001 Messpunkte gescannt. Erhältlich sind die VNAs von Copper Mountain Technologies u.a. im Webshop von Meilhaus. www.meilhaus.de/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |