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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Bildverarbeitungsmodul für den Test von CMOS-Bildsensoren22. Januar 2014 - Advantest präsentiert ein neues Bildverarbeitungsmodul, das eine deutlich kürzere Bildverarbeitungszeit beim Test von CMOS-Bildsensoren mit hoher Pixelzahl ermöglicht. Derartige Bildsensoren werden in Smartphones, Tablet-PCs, Digitalkameras und Videocamcordern verwendet. Durch die kürzeren Testdurchlaufzeiten lassen sich die Kosten pro Bauteil reduzieren, so dass die Elektronikprodukte kostengünstiger werden. Das neueste Testmodul T2000 ISS IPE2 von Advantest für die T2000 Plattform enthält eine verbesserte Bildverarbeitungs-Engine mit einer Quad-Core-CPU. Durch den Einsatz von vier Mikroprozessor-Cores kann die flexible ISS IPE2 Einheit jedem Bauteil eine unabhängige Bildverarbeitungs-Engine bei simultanen Tests zuordnen. Mit dieser Konfiguration lassen sich die Testzeiten bei Highend-CMOS-Bildsensoren mit hohen Pixelzahlen um bis zu 46 Prozent reduzieren. "Unser neues Hochgeschwindigkeits- Bildverarbeitungs-Modul wurde speziell für CMOS-Bildsensoren mit immer mehr Pixel und einer höheren Bildqualität entwickelt", sagt Satoru Nagumo, Executive Vice President von Advantest Corporation. "Dieses System adressiert die sehr hohen Anforderungen der Industrie, die künftig noch weiter steigen werden." Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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