Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Handler für den Test von Speicher-ICs

Advantest-M624502. Dezember 2014 - Advantest stellt den neuen Testhandler M6245 vor, der sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit auszeichnet und ideal für das Handling von DDR- (Double Data Rate) und Flash-Speicher-Bauteilen geeignet ist. Der M6245 Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3 mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit verbessert. Dadurch eignet sich das System auch für Speicher mit sehr feinem Pitch.

Das neue Handling-Design des M6245 gewährleistet durch die optische Ausrichtung bei Fine-Pitch-Bauteilen einen maximalen Durchsatz. Zudem ermöglicht das Design auch bei einer mechanischen Ausrichtung von Bauteilen mit konventionellem Pitch einen höchstmöglichen Durchsatz. Die hoch genaue Ausrichtung erlaubt zudem eine schnellere Einrichtung und Kalibrierung, was ebenfalls zur Steigerung der Systemproduktivität beiträgt.

Die Produktivität wird durch die hohe Automatisierung des neuen Handlers maximiert.

Halbleiter-Bauteile werden nach einem ersten Test automatisch erneut getestet, um den Arbeitsaufwand des Bedienpersonals zu reduzieren gleichzeitig aber die höchstmögliche Ausbeute sicherzustellen.

"Durch die Kombination von verbesserter Positioniergenauigkeit, höherem Durchsatz und genauerer Temperatursteuerung in einem einzigen System ermöglicht unser neuer Handler sehr effiziente Tests von hochentwickelter Memory-ICs", sagt Hiroki Ikeda, FA (Factory Automation) Division Manager bei Advantest Corporation.

Durch den Einsatz der neuen thermischen Technologie “Dual-Fluid Design" von Advantest kann die Temperatur jedes einzelnen zu prüfenden Bauteils im gesamten Bereich von -20°C bis 100°C auf ±1°C genau gehalten werden. Die Temperaturgenauigkeit in den Bereichen -40°C bis -20°C und 100°C bis 125°C liegt bei ±2°C. Dies erlaubt eine hoch genaue Prüfung von Memory-ICs, die für einen weiten Temperaturbereich spezifiziert sind.

Das System enthält auch das neue Advantest Handler Data Visualization Framework, das eine Echtzeit-Überwachung der Testzelle über eine Internet-Verbindung ermöglicht.

Die Auslieferung der M6245 Handler soll ab dem ersten Quartal des Kalenderjahres 2015 beginnen.

www.advantest.de/



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung