Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Dynamischer Leistungsanalysator für Wide-Bandgap-Halbleiterbauelemente

Keysight B1506A10. Mai 2019 – Der neue dynamische Leistungsanalysator mit Doppelpulstester PD1500A von Keysight Technologies ermöglicht zuverlässige und wiederholbare Messungen von Wide-Bandgab- Halbleitern (WBG) wie Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN). Gleichzeitig wird auch die Sicherheit der Messhardware und der Fachleute, die die Tests durchführen, gewährleistet.

 Der PD1500A ist modular aufgebaut, so dass viele Bauteiltypen getestet und verschiedene Charakterisierungstests bei verschiedenen Leistungen durchgeführt werden können. Das nun vorgestellte erste System ermöglicht eine vollständige Charakterisierung mit Doppelpulstests und Parameterextraktion für Si- und SiC-Leistungshalbleiter mit Nennwerten bis zu 1,2 kV und 200 A. Mit zukünftigen weitere Modulen des PD1500A können Tests an Bauteilen durchgeführt werden, die mehr Strom benötigen, wie beispielsweise GaN- und Leistungsmodule.

Vorteile des PD1500A im Überblick:

  • Senkung der Kosten und Verkürzung der Time-to-Market durch Reduzierung der Entwicklungszeit und der Anzahl der benötigten Prototypen.
  • Gewährleistung einer sicheren Testumgebung
  • Dokumentation, Unterstützung und Wartung einer Standard-Testlösung sowie die Wartung mehrerer Testlösungen an einem oder mehreren Standorten.
  • schnelle Reaktion auf Zuverlässigkeitsprobleme mit Messungen, die sich auf die Robustheit konzentrieren (z.B. Messungen von Kurzschlüssen und Lawinen).
  • Vereinfachung und Automatisierung der Testprozesse.
  • Verbesserung der Produktmodelle, die in Design- und Simulationssoftware verwendet werden (PD1000A).

Anwendungen in der Elektromobilität

 Das globale Wachstum des Marktes für Elektrofahrzeuge (Electric Vehicle, EV) führt zu einer starken Nachfrage nach kleinen, leistungsstarken und effizienten Stromversorgungssystemen. Während sich die Industrie für kritische Anwendungen wie erneuerbare Energien und EVs den Wide-Bandgab-Halbleitern zuwendet, zögern viele Entwickler von Spannungswandlern, die neue Technologie zu übernehmen. Dies ist auf potenzielle Zuverlässigkeits- und Wiederholbarkeitsrisiken bei der Charakterisierung einer neuen Generation von Halbleitern zurückzuführen, darunter IGBTs (Insulated-Gate Bipolar Transistor), SiC und GaN.

 Die vollständige Charakterisierung eines SiC- oder GaN-Bauelements erfordert statische und dynamische Messungen. Die Power Device Analyzer B1505A und B1506A von Keysight sind hervorragend für statische Messungen geeignet. Mit dem neuen PD1500A bietet Keysight nun auch die Flexibilität, eine Vielzahl von dynamischen Messungen durchzuführen. Diese Flexibilität benötigen Entwickler, um kontinuierlich an ihren Bauteilen zu arbeiten, während sich die Standards des Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC, eine Organisation verantwortlich für die Standardisierung in Halbleiterhandel und -technik) für WBG-Bauteile weiterentwickeln.

„Um den Wechsel zu innovativen Leistungsbauteilen sicher und konsequent zu vollziehen, muss sich das Ökosystem der automobilen E-Mobilität über selbst entwickelte dynamische Testsysteme hinaus entwickeln, da diese aufgrund nicht garantierter Leistungen und Eigenschaften unzuverlässig sein können“, sagte Siegfried Gross, Vice President und General Manager der Automotive and Energy Solutions Group von Keysight. „Keysight arbeitete eng mit Halbleiterherstellern sowie Entwicklern in der Energie- und EV-Branche zusammen, um eine Plattform für die Analyse dynamischer Leistungsbauelemente zu entwickeln. Diese muss die wesentlichen Funktionen für Doppelpulstests enthalten, um eine wiederholbare, zuverlässige und sichere Charakterisierung dynamischer Leistungsbauelemente zu erreichen.“

www.keysight.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

Automotive Testing Expo Europe
21. bis 23. Mai 2019
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px