Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Software verbindet EDA-Umgebung direkt mit Halbleitertester

31. Mai 2019 – Advantest Corporation hat die Funktionalität seiner V93000 SmarTest-Software um SmartShell erweitert. Bei SmartShell handelt es sich um eine neue Softwarelösung, die eine direkte Kommunikation zwischen einem skalierbaren V93000 Tester und EDA-Umgebungen (Electronic Design Automation) wie der Tessent Silicon Insight Software von Mentor, einem Siemens-Unternehmen, ermöglicht.

EDA-Tools und Testsystem können sich nun über Remote-Zugriff mit einem Online-Netzwerk verbinden, Testpattern zur Ausführung senden, ändern sowie Ergebnisse und Fehlerinformationen direkt abrufen, anstatt mehrere Formatkonvertierungen durchzuführen.

Traditionell erstellen Entwicklungsingenieure aus einer Simulationsumgebung Testpattern für Scan-, JTAG- und BIST-Auswertungen und speichern diese im STIL-Format. Die Pattern werden dann in testerspezifische Formate umgewandelt und auf automatischen Testgeräten (ATE) ausgeführt, bevor die Ergebnisse als STDF- oder TXT-Dateien an die IC-Entwicklungsabteilung zurückgesendet werden. Dieser Prozess kann äußerst zeitaufwendig sein, insbesondere wenn mehrere Durchläufe erforderlich sind, um Pattern für den Test in der Produktion für neue ICs zu erstellen.

Die SmartShell-Software ermöglicht es externen Design-, die Pattern direkt an ein Testsystem zu übermitteln, auszuführen, Ergebnisse zu sammeln und bei Bedarf Änderungen vorzunehmen. Dies wird durch eine einfache Reihe von Befehlen, die von verschiedenen Skripting- und Programmiersprachen unterstützt werden, ermöglicht.

Das Softwaretool verkürzt die Entwicklungszeit für die Pattern von neuen ICs erheblich und ermöglicht leistungsfähige Debugging- und Datenerfassungsszenarien für interne JTAG (IEEE 1687) und andere Design-for-Test-Technologien (DfT).

"Durch den kurzen und direkten Pfad von DfT zu ATE unterstützen wir unsere Kunden, die ständig wachsende Komplexität der ICs in kürzerer Zeit zu bewältigen", sagte Ralf Stoffels, Vice President of Marketing für den V93000 von Advantest. "Neben der Entwicklung von Testlösungen, die auf dem V93000 System eingesetzt werden können, entwickelt unsere T6391 Produktgruppe eine ähnliche Softwarebrücke für ihre Plattform. Gleichzeitig arbeiten wir weiterhin sehr eng mit unseren EDA-Partnern zusammen, um integrierte Lösungen anbieten zu können, die allen Anforderungen unserer gemeinsamen Kunden gerecht werden."

"Die Zusammenarbeit mit unseren Kunden und Industriepartnern wie Advantest trägt entscheidend dazu bei, die Komplexität zu bewältigen, die die Markteinführung von neuen ICs mit sich bringt", sagte Brady Benware, Senior Marketing Director für die Tessent Produktfamilie bei Mentor, einem Siemens Unternehmen. "Die Erweiterung von Silicon Insight und ATE-Connect auf den Advantest V93000 Tester könnte diese Periode von Wochen auf Tage reduzieren."

Advantest und Mentor werden auf der kommenden VOICE Entwickler-Konferenz vom 14. bis 15. Mai in Scottsdale, Arizona, zeigen, wie SmartShell verwendet wird, um Mentors Tessent Silicon Insight-Tool mit einem V93000-Tester zu verbinden.

www.advantest.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

Measurement Summit
19. September 2019
zur Terminübersicht...
eMove360 - 2019
15. bis 17. Oktober
zur Terminübersicht...
MikroSytemTechnik
28. bis 30. Oktober
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px