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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Advantest stellt neues Memory Test System vor

20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und zeichnet sich durch eine Per-Site-Architektur und eine marktführende Testgeschwindigkeit von 266MHz/533Mbps aus.

Es ist damit ideal für den Test der aktuellen Flash-Speicher, sowie auch künftiger Bauteilgenerationen einschließlich Mikrocontroller mit integriertem Speicher und den hochentwickelten Speicherbus-Schnittstellen. Durch die Möglichkeit sowohl At-Speed-, als auch At-Specification-Tests durchführen zu können, erfüllt das T5782 die Anforderungen der künftigen KGD (Known Good Die) und MCP-Speicher-Lösungen.

Das System erlaubt einen gleichzeitigen Test von bis zu 256 Bauteilen und beinhaltet die fortschrittlichen Technologien und Leistungsmerkmale des Vorgängermodells T5781, benötigt allerdings nur noch die halbe Grundfläche. Das T5782 Testsystem verfügt über zahlreiche Flash-Funktionen, einschließlich ECC-Test und Block-Management, wodurch sich das System flexibel bei unterschiedlichen Anforderungen einsetzen lässt.

Das T5782 Testsystem wurde speziell für den Test der Speicherschaltungen von Flash-MCUs entwickelt und zeichnet sich durch die derzeit höchste verfügbare Testgeschwindigkeit aus: 266MHz. Die parallele Testkapazität wurde gegenüber dem bisherigen Modell T5781 um 50 % reduziert, was einer Optimierung der Konfiguration des neuen Testers im Hinblick auf den schnelleren Generationswechsel im Flash-MCU-Segment entspricht und zudem Einsparungen bei den individuellen Adaptierungskosten und dem Stromverbrauch ermöglicht. Geringere Betriebskosten erlauben damit eine kostengünstigere Flash-MCU-Produktion.

www.advantest.de


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