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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Software für Halbleitertestanwendungen30. September 2010 - Keithley Instruments, Inc. hat eine neue Version seiner ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software für Halbleitertest- und Messanwendungen vorgestellt. Die ACS Basic Edition Version 1.2 bietet mehr Benutzerfreundlichkeit, einen größeren Bedienkomfort und eine höhere Produktivität bei der Charakterisierung von Bauteilen und diskreten Halbleiterbauteilen (im Gehäuse).
Die ACS Basic Edition beinhaltet eine sehr umfangreiche sowie schnell und einfach zugreifbare Testbibliothek, so dass keine Programmierung erforderlich ist. Die intuitive grafische Anwenderschnittstelle (GUI) vereinfacht zudem I-V-Tests sowie die Erfassung und Analyse der Daten. Sogar unerfahrene Anwender können dadurch ein Halbleiter-Bauelement innerhalb von wenigen Sekunden testen und die Messergebnisse sofort mit Referenzkurven vergleichen. Vorkonfigurierte Tests minimieren die Vorbereitungszeit, trotzdem verfügt der Anwender noch über eine ausreichende Flexibilität, um die Tests oder das ganze Testsystem zu optimieren. Der neue Trace-Modus von ACS Basic Edition Version 1.2 ermöglicht interaktive Bauteiltests. Damit lässt sich der Arbeitsbereich und die Charakterisik eines Testobjekts (DUT) untersuchen, ohne dass das Bauteil beschädigt wird. Dieser interaktive Modus beinhaltet eine komfortable Methode zur Steuerung eines Spannungsverlaufs entweder mit einem virtuellen Schieberegler oder über die Pfeiltasten der PC-Tastatur.
Unterstützt unterschiedlichste Anwendungen Die ACS Basic Edition maximiert die Produktivität für Techniker und Ingenieure, die sich mit der Charakterisierung von gehäusten Bauteilen in der Bauteilforschung, der Entwicklung, Qualitätsprüfung oder Ausfallsanalyse befassen. Sie unterstützt zudem Entwickler von neuartigen Bauteilen und Forscher in Universitäten beim Übergang von der reinen Forschung hin zur kommerziellen Anwendung. Darüber hinaus eignet sich die Software auch für den Einsatz in der Halbleiterfertigung oder zur Prozessoptimierung in der Pilotfertigung auf Bauteilebene, wo sie die Ingenieure bei der Qualitätssicherung, Ausfallsanalyse und dem Endtest unterstützt.
Verfügbarkeit ACS Basic Edition Version 1.2 ist ab sofort verfügbar. www.keithley.com Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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