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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

GE-xaminerRöntgeninspektionssystem mit hoher Auflösung

01. Juli 2011 – Der neue phoenix x|aminer von GE Inspection Technologies ist ein mikrofocus-Röntgenprüfsystem mit 5-Achs-Manipulation, das speziell für die Qualitätskontrolle bei der Herstellung von elektronischen Baugruppen entwickelt wurde. Er eignet sich insbesondere für die zuverlässige und genaue Prüfung von Lötstellen. Der phoenix x|aminer bietet 2 Megapixel Auflösung und eine hohe Vergrößerung.

Seine leistungsstarke Bildbearbeitungssoftware ermöglicht intuitives Programmieren. Die Navigation auf der Leiterplatte erfolgt einfach und präzise per Computermaus oder Joystick.

Tobias Neubrand, Produktmanager für Elektronikinspektion bei GE´s phoenix|x-ray Produktlinie erklärt: „Die Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen hängt stark von der Qualität der Lötverbindungen ab. Aufgrund der heutigen Fertigungstechnologie sind viele Lötstellen jedoch nicht mehr direkt sichtbar. Der x|aminer ist das neueste Modell unserer Reihe von Röntgenprüfsystemen für elektronische Baugruppen. Er sorgt für eine zuverlässige Fehlererkennung in einem System, das leicht automatisiert werden kann. Seine Durchlichtfläche erlaubt auch die Inspektion von großen bestückten Leiterplatten.“

Als wichtiges Designmerkmal verfügt das neue System über das phoenix ovhm Modul für Schrägdurchstrahlung bei höchster Vergrößerung. Dieses Modul erlaubt Schrägdurchstrahlung bei einem Projektionswinkel von bis zu 70° sowie eine totale Vergrößerung von > 23.000-fach. Dies gewährleistet Fehlerinformationen von sehr hoher Aussagekraft in der vertikalen Richtung. Außerdem ist das System dank seiner offenen 160 kV mikrofocus-Röntgenröhre äußerst wartungsarm. Da die vorjustierte Kathode problemlos vom Bediener ausgewechselt werden kann, ist die Betriebslebensdauer der Röhre nahezu unbegrenzt. Gleichzeitig durchdringen seine 20 W Röhrenleistung selbst Komponenten mit extrem hoher Strahlungsabsorption.

Der neue x|aminer ist mit der modernsten phoenix x|act-Software ausgestattet. Dank ihrer einfachen Makro-Aufzeichnung können Positions- und Bildparameter für die verschiedenen Prüfanwendungen intuitiv programmiert werden. Sämtliche Einstellungen werden einfach per Mausklick gespeichert. Automatisch erstellte Übersichtsbilder können für alle Leiterplatten desselben Typs überall im System verwendet werden, selbst wenn diese gedreht und umgedreht werden. Zusätzlich verbessert eine automatische Bildoptimierung das Live-Bild und sorgt somit für eine noch höhere Trefferquote bei der Fehlererkennung."

www.ge-mcs.com/phoenix


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