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GÖPEL electronic erhält "Best in Test Award 2012" für Boundary Scan Lösung

24. Februar 2012 - Zum bereits siebten Mal hintereinander wurde die GÖPEL electronic GmbH wird mit einem „Best in Test Award“ der internationalen Fachzeitschrift und Website „Test & Measurement World“ ausgezeichnet. In der Rubrik „Design for Test/Boundary Scan“ war GÖPEL electronic mit seiner Boundary-Scan-Test- und Programmierlösung SFX/TAP16-G gegen harte Konkurrenz angetreten und am Ende wie schon in den Jahren zuvor erfolgreich.

„Unsere Soft- und Hardwarelösungen repräsentieren nun schon seit Jahren die technologische Spitze auf dem Gebiet des JTAG/Boundary Scan, was der wiederholte Gewinn dieser begehrten Auszeichnung eindrucksvoll unterstreicht“, sagt Stefan Meißner, Public Relations Manager bei GÖPEL electronic. „Das Erringen des ‚Best in Test Awards‘ für den SFX-TAP16/G zeigt auch, dass Programmierlösungen mittels Boundary Scan immer mehr an Bedeutung gewinnen. Außerdem wird eine weitere bedeutende Leistung honoriert, die unsere Ingenieure Jahr für Jahr für einen herausfordernden Markt entwickeln.“

Die „Best in Test Awards“ sind eine weltweit begehrte und anerkannte Auszeichnung, um die sich jährlich unzählige internationale Firmen mit ihren neusten Testlösungen bewerben.

Der SFX-TAP16/G ist der erste vollständig modulare Gang-Tester mit integrierter UUT-Stromversorgung (Unit Under Test). Er dient zum parallelen Testen und Programmieren von bis zu 16 Boards ohne weitere Zusatzhardware. Mit dem SFX/TAP16-G können sehr kompakte und kostengünstige Gang-Test Applikationen realisiert werden, wobei sein Einsatz auch die Effektivität in der Produktion steigert und zur nachhaltigen Senkung der Fertigungskosten beiträgt.

www.goepel.com


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