|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Einfacher Analyse-Scanner für die Baugruppen-Inspektion10. August 2009 - TBK - Technisches Büro Kullik GmbH bietet mit dem Analyse- Scanner eine einfache Lösung zur Inspektion der Bestückung von Leiterplatten an. Der Analyse - Scanner untersucht bestückte Leiterplatten auf Fehlbestückungen oder fehlerhafte Bauteile. Dazu wird zuerst eine fehlerfreie Leiterplatte gescannt und das Abbild wird gespeichert. Zum Vergleich werden dann gleiche aber nicht geprüfte Leiterplatten eingelesen. Beide Bilder werden abwechselnd mit einem gleichmäßigen Rhythmus auf dem Schirm eines Computers gezeigt, dabei blinken alle zum Original unterschiedlichen Positionen. Mit der dazugehörigen Software können die Positionen der Fehlstellen angefahren werden und mit den hinterlegten Konstruktionsdaten verglichen werden; der Fehler und seine richtige Alternative ist schnell und ohne große Vorkenntnisse zu erkennen und zu berichtigen. Der eingesetzte Scanner kann als Flachbett -Gerät oder als Kamerabox für größere Leiterplatten ausgeführt sein. Bei der Kamerabox werden zur Verbesserung der Tiefenschärfe, Leuchtquellen mit einer extrem großen Lichtausbeute eingesetzt. www.kullik.comWeitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |