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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Kombination von Inline-Programmiersystem und Embedded Test08. Januar 2013 - GÖPEL electronic hat ein weiteres Inline-Produktionssysteme der RAPIDO-Familie zur High-Speed In-System-Programmierung vorgestellt, das zudem einen Board-Test auf Basis neuester Embedded System Access (ESA) Technologien erlaubt. Die neuen Modelle mit der Bezeichnung RPS3000-(x) unterstützen beidseitige Kontaktierungen mit bis zu 3000 Nadeln. Dadurch können nichtflüchtige Speicher wie Flash, Mikrocontroller (MCU) und Programmable Logic Devices (PLD) noch schneller und zuverlässiger programmiert werden. Auf Basis einer weiterentwickelten SCANFLEX-Architektur mit Short Wire Interface für bis zu 32 Sites ist es nun möglich, Programmieraufgaben mit Teststrategien wie Boundary Scan, Processor Emulation, Chip Embedded Instruments oder Funktionstest zu kombinieren. Zusammen mit der patentierten Handling-Mechanik vereint das skalierbare Gesamtsystem damit die Vorteile einer voll flexiblen Programmierlogistik mit höchstem Produktionsdurchsatz. Damit bietet RAPIDO den Anwendern die Möglichkeit, sowohl die Lagerhaltungskosten als auch die totalen Produktionskosten signifikant zu senken. „Die bisherige Bilanz von mehreren Systemverkäufen in den Bereichen Automotive und Industrieelektronik seit der Produkteinführung vor etwa sechs Monaten belegt eindrucksvoll, dass der Markt von unserem innovativen RAPIDO-Konzept überzeugt ist“, freut sich Thomas Wenzel, Geschäftsführer der JTAG/Boundary Scan Division. „Mit den neuen Modellen bauen wir die Inline-Produktlinie gezielt weiter aus und können jetzt auch kombinierte Test- und Programmierstrategien für sämtliche Embedded-System-Access-Technologien unterstützen. Damit werden nicht nur die Synergieeffekte zwischen Labor und Produktion weiter gesteigert, sondern auch Anforderungen nach noch höherem Inline-Durchsatz erfüllt.“ Die RAPIDO Systemfamilie Das erste Mitglied der RAPIDO-Produktfamilie war RPS900-S16, welcher standardmäßig beidseitige Kontaktierungen von bis zu 900 Nadeln bei bis zu 16 Sites ermöglichte. Die beiden neuen Modelle RPS3000-S16 und RPS3000-S32 erweitern die Fähigkeiten auf bis zu 3000 Nadeln bei 32 Sites. Alle Systeme basieren auf dem Einsatz fortgeschrittener ESA- Technologien zum Test und zur Programmierung hochkomplexer Boards. Sämtliche Typen von Flash-Speichern wie NOR, NAND, eMMC mit parallelem oder seriellem Interface werden unterstützt. Im Fall von extern über Steckverbinder zugreifbaren Flash ist auch eine direkte Programmierung über Nadeln möglich, da RAPIDO über separate dynamische I/O verfügt. Weitere Targets sind Microcontroller und alle Arten von PLD oder FPGA. Testtechnisch steht eine breite Palette an strukturellen Verfahren sowie zum At-Speed-Test zur Verfügung. Kernelemente von RAPIDO sind die bewährten und lang gereiften Software- und Hardware-Plattformen SYSTEM CASCON und SCANFLEX. Sie ermöglichen im Verbund mit dem neuen Short Wire Interface höchste Zuverlässigkeit und Sicherheit bei maximaler Produktivität. Darüber hinaus stehen für RAPIDO diverse Optionen zur Kombination mit funktionalem Board-Test bis 100MHz, für kundenspezifische Erweiterungen, zur Programmierung via CAN, LIN oder FlexRay, sowie zur Kopplung mit Bestückmagazinen und PASS/FAIL-Sortierern zur Verfügung. Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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