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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Boundary Scan Days 2013 mit Schwerpunkt Embedded System Access

03. Mai 2013 - Am 15. und 16. Mai 2013 veranstaltet die GÖPEL electronic GmbH zum 13. Mal  die Boundary Scan Days in Jena. Der Schwerpunkt liegt in diesem Jahr auf den Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen sowohl JTAG/Boundary Scan als auch neuartige Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. Ein besonderer Höhepunkt ist die Vorstellung von Bit Error Rate Tests (BERT) auf Basis von FPGA Embedded Instruments.

Während der Boundary Scan Days werden Nutzer und Entwickler Vorträge über Anwendungen, neue Technologien, Standards und technologische Trends halten. Vertreter von Firmen aus den Bereichen Industrieelektronik, Mess- und Prüftechnik, Luft- und Raumfahrt, Automotive, Medizintechnik und Kommunikationselektronik berichten über Applikationen, Problemlösungen sowie spezielle Einsatzfälle und deren Nutzwerte.

Eine wichtige Säule der Boundary Scan Days bilden die Workshops, die von den Gästen je nach Interessenlage besucht werden können. Auch hier sind die Themen von Prozessor-Emulation, Chip-embedded Instrumentierungen über Programmieraufgaben bis hin zu effektiven JTAG/Boundary-Scan-Projektentwicklungen breit gefächert.

Die Boundary Scan Days von GÖPEL electronic bieten nun schon seit 13 Jahren eine Plattform des persönlichen Erfahrungsaustauschs, der Erkenntnisgewinnung und der Diskussion zukünftiger Anwendungen – mittlerweile zählen sie zu diesem Fachthema als führende Technologieveranstaltung in Deutschland.

www.goepel.com/bscan-days/



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