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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
GÖPEL electronic öffnet Embedded System Access Plattform für 3rd-Party-Tools08. Mai 2013 - GÖPEL electronic hat in Zusammenarbeit mit ausgewählten Partnern im Rahmen des GATE-Allianzprogramms einen leistungsfähigen Inter Process Link (IPL) für seine JTAG/Boundary-Scan-Software-Plattform SYSTEM CASCON entwickelt. Die Lösung ermöglicht den direkten Zugriff von Fremdwerkzeugen auf die systeminterne Projektdatenbasis und unterstützt auch interaktive Operationen zum Handling von Daten und Steuerkommandos. Dadurch können spezielle Softwarewerkzeuge wie Analysatoren, Visualizer, Generatoren usw. an SYSTEM CASCON angekoppelt und gesteuert werden, um die Leistungsfähigkeit der Plattform gezielt zu erweitern. "Insbesondere der zunehmende Einsatz von Chip Embedded Instruments erschließt eine Fülle neuer Prüf- und Messapplikationen. In diesem Kontext ist die nahtlose Kopplung mit entsprechend komplementären Softwarewerkzeugen von Drittanbietern ein entscheidendes Element für die praktische Nutzung, was wir mit dem neuentwickelten Interface gezielt adressiert haben", erklärt Stefan Meißner, Pressesprecher bei GÖPEL electronic. "Außerdem bauen wir damit die Skalierbarkeit, Flexibilität und Offenheit von SYSTEM CASCON als führende Plattform zur ganzheitlichen Umsetzung von Embedded System Access Strategien weiter aus." Der neuentwickelte IPL ist eine bidirektionale Integrations-Schnittstelle und ermöglicht externen Softwarewerkzeugen einen nahezu unlimitierten dynamischen Zugriff auf die interne Datenbasis von SYSTEM CASCON wie Projektdaten, Objektzustände und Systeminformationen. Gleichzeitig wurden auch interaktive Steuermechanismen implementiert, welche eine nahtlose Anbindung und Nutzung der 3rd-Party-Software ermöglichen. Durch die Universalität der Lösung können eine Vielzahl von ergänzenden Softwarewerkzeugen angedockt werden. Beispiele sind spezielle Datenprozessoren oder Prozessvisualizer bis hin zu kompletten Pattern-Generatoren bzw. Signalanalysatoren. Über Embedded System Access (ESA) ESA Technologien ermöglichen den elektrischen Zugriff auf Embedded Systeme ohne den Einsatz von mechanischen Nadelkontakten oder Proben (nichtinvasive Verfahren). Dazu nutzen sie designintegrierte Test- und Debugschnittstellen wie beispielsweise JTAG. Zu den ESA Technologien gehören neben Boundary Scan, auch Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, FPGA Assisted Test, FPGA Assisted Programming, In-System Programming oder Core Assisted Programming. ESA Technologien sind die derzeit modernsten Strategien zur Validierung, Test, Debugging, sowie zur Programmierung komplexer Chips, Boards und kompletter Units, können über den gesamten Produktlebenszyklus eingesetzt werden und ermöglichen verbesserte Testabdeckung bei verringerten Kosten. Verfügbarkeit und Lizensierung Der neue Inter Process Link ist standardmäßig ab SYSTEM CASCON Version 4.6.2 integriert. Das Interface wird im Kontext der Freigabe des entsprechenden Softwarewerkzeuges per Lizenzmanager freigeschaltet. Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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