Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Boundary-Scan-Komplettpaket für komplexe Projekte in Entwicklung und Produktion

23 . Juli 2013 - GÖPEL electronic hat sein Produktspektrum im Bereich Boundary-Scan um ein Komplettpaket ergänzt. SCANLFEX Designer Studio ist ein komplettes Boundary-Scan-Testsystem, bestehend aus Hard- und Software sowie einjährigem Wartungsvertragund eigent sich für die Durchführung von Test- oder Debug-Aufgaben sowohl in der Entwicklung als auch in der Fertigung elektronischer Baugruppen. Die Hardware des Pakets ist bereits für den potenziellen Einsatz von Embedded-System-Access-Technologien (ESA) wie ChipVORX oder VarioTAP vorgerüstet und kann außerdem mit zusätzlichen I/O-Modulen erweitert werden.

„Während sich unsere bisher verfügbaren Boundary-Scan-Bundles vor allem an den  Bedürfnissen von Einsteigern orientierten, erschließt das neue SCANFLEX Designer Studio weitreichende Möglichkeiten für komplexe Projekte mit hohem Potenzial zur Anwendung weiterer ESA-Technologien“, erklärt Stefan Meißner, Pressesprecher der GÖPEL electronic GmbH. „Gleichzeitig komplettieren wir damit unser Portfolio an entsprechenden Paketen und können nunmehr für sämtliche Anwendungssituationen das beste Preis-Leistungsniveau anbieten.“

Das Hardware-/Software-Paket umfasst einen SCANFLEX Controller SFX/COMBO1149-A sowie eine SYSTEM CASCON Development Station (DS) Software vom Typ Basic/SX (SCANFLEX Designer Studio Base Version), Standard/SX (SCANFLEX Designer Studio Standard Version), oder Standard mit der Zusatz-Option Scan Vision Layout.  Der SCANFLEX Controller SFX/Combo 1149 enthält auch einen 4-TAP Transceiver sowie drei SFX-Slots. Dadurch ist er für sämtliche ESA-Technologien ausgerüstet und bietet vielfältige Erweiterungsmöglichkeiten. Dazu gehört auch die Nutzung von SFX-I/O Modulen, CION-I/O-Modulen, oder ChipVORX-I/O-Modulen.

Durch die Verfügbarkeit von drei Versionen kann das Leistungsniveau des Bundles vom reinen Test (Base Version) auch auf In-System-Programmierung von PLD und moderaten Flash, sowie zum automatisierten Test von Speichern und Clustern (Standard Version) bis zu Operationen mit Layout-Visualisierung (Comfort Version) ausgedehnt werden. Ein Upgrade in die nächsthöhere Version ist jederzeit möglich. Außerdem existieren eine Vielzahl weiterer Hardware- und Softwareoptionen, so dass die Leistungsfähigkeit mit der Applikation wachsen kann und die Investitionen geschützt sind.

Boundary Scan (JTAG/IEEE 1149.x) ist ein modernes Zugriffsverfahren zum Testen und Programmieren komplexer Schaltungen ohne den invasiven Einsatz von Proben und Nadeln. Die Technologie gehört zur Gruppe der Embedded System Access (ESA) Strategien und beruht auf designintegrierter Testelektronik.

Zu den ESA-Technologien gehören auch Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming. Sie bilden die derzeit modernsten Strategien zur Validierung, Test, Debugging, sowie zur Programmierung komplexer Boards und Systeme, können über den gesamten Produktlebenszyklus eingesetzt werden und ermöglichen verbesserte Testabdeckung bei verringerten Kosten.

www.goepel.com/



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Automotive Testing Expo Europe
05. bis 07. Juni 2018
zur Terminübersicht...
PCIM 2018
05. bis 07. Juni 2018
zur Terminübersicht...
SMT/HYBRID/PACKAGING 2018
05. bis 07. Juni 2018
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px