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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Neues Modul für die Boundary Scan Erweiterung IEEE P1687

12. Februar 2014 – JTAG Technologies zeigt auf der Embedded World in Nürnberg in Halle 4, Stand 619 ein neues Modul für die Boundary Scan Erweiterung IEEE P1687. Der neue IEEE P1687 Standard (IJTAG - Internal JTAG) wurde als evolutionäre Erweiterung der Basis-Standards IEEE 1149.1 und IEEE 1500 entwickelt und beschreibt den Zugriff auf in ein Bauteil oder SoC (System-on-Chip)integrierte Embedded (Test) Instrumente über den konventionellen 4/5-Draht-JTAG-Port.

In diesem Standard werden zwar die Mechanismen für eine Interaktion mit diesen Instrumenten (normalerweise HS-IO-Module für den Test von sehr schnellen Schnittstellen, wie DDR3 usw.) beschrieben, nicht aber die Instrumente selbst. JTAG Technologies hat deshalb Werkzeuge entwickelt, um das neue P1687 Beschreibungsformat auszulesen und damit den Kunden die Merkmale aller konformen Bauteile verfügbar zu machen.

Das spezifische P1687 Modul unterstützt die entscheidenden Sprachelemente des vorgeschlagenen Standards, nämlich: - ICL Instrument Connectivity Language, das die Hardware-/Logik-Schnittstelle zur Instrumenten-IP definiert und PDL - Procedural Description Language (ein naher Verwandter von TCL), das die Pattern oder Vektoren definiert, die über die Logikschnittstellen angelegt und gemessen werden, um die IP-Funktionen der Instrumente aufzurufen. Unser P1687 Tool enthält alle notwendigen Parser und Interpreter, um funktionsfähige Anwendungen für P1687 kompatible Bauteile zu erstellen, die inzwischen bereits in einigen Industriebereichen eingesetzt werden.

www.jtag.com/



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