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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

 

Embedded Test von differentiellen Takt-Signalen

16. April 2014 - GÖPEL electronic erweitert seine ChipVORX embedded Test Instrumente um spezielle FPGA-Softmacros für universelle Frequenzmessungen. Die ChipVORX Modelle sind modulare IP zur Steuerung von Chip embedded Instruments und ermöglichen nunmehr auch den FPGA Assisted Test von differentiellen Clock-Signalen sowie die Messung von Frequenzen direkt in der Systemapplikation. Dadurch können Anwender die Dynamik der Signale verifizieren und die Testabdeckung erhöhen, wobei der Workflow softwareseitig vollautomatisiert ist.

Da das Verfahren ohne FPGA Design-Synthese auskommt ist eine dynamische Adaption des Testablaufes z.B. für das operative Hardware-Debugging an unterschiedlichsten Signalpins problemlos möglich.

„Differentielle Clocks spielen insbesondere bei modernen FPGA-Designs mit involvierten Gigabit Interfaces eine entscheidende Rolle für die Stabilität der Datenübertragung und mit den neuen ChipVORX Modellen können unsere Kunden jetzt entsprechende Tests durchführen“, freut sich Bettina Richter, Marketing Manager bei GÖPEL electronic.

„Mit diesem Schritt komplettieren wir unser Sortiment an Lösungen für den FPGA Assisted Test und bieten den Anwendern einen entscheidenden Mehrwert an Testabdeckung bei Designs mit reduziertem physikalischem Zugriff“.

Die ChipVORX-IP zur universellen Frequenzmessung konfigurieren im FPGA ein entsprechendes Instrument, welches für den Anwender über den standardisierten IEEE1149.1 TAP vollständig steuerbar ist. Dabei ist neben der Frequenzmessung auch eine Zählerfunktion verfügbar. Diese Features ermöglichen sowohl die Überprüfung von Clock-Signalen, als auch den Nachweis von Impulsen, undeterministischen Signalwechseln oder Stuck-at O/1 Fehlern. Während für den automatisierten Produktionstest die Ansteuerung im Rahmen des Testprogramms erfolgt, stehen für das interaktive Debugging auch graphische Panels zur Verfügung. Die Ausführung der Testprogramme ist auf jeder Run-Time Station ohne weitere Optionen möglich. Dabei werden auch Gang-Applikationen unterstützt.

Zur automatischen Generierung der Testprozeduren steht softwareseitig ein im SYSTEM CASCON integrierter Automatischer Application Program Generator (AAPG) zur Verfügung.

Über Chip Embedded Instruments:

Chip Embedded Instruments sind in einem Integrierten Schaltkreis fest oder temporär implementierte Test und Measurement (T&M) Funktionen. Sie bilden faktisch das Gegenstück zu externen T&M-Instrumenten, benötigen jedoch keine invasiven Kontaktierungen in Form von Proben oder Nadeln. Dadurch vermeiden sie auch das Problem von Signalverfälschungen bei Highspeed-Designs durch parasitäre Kontaktierungs-Effekte. Chip Embedded Instruments sind Teil der sogenannten Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen auch Verfahren wie Boundary Scan, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. ESA Technologien sind die derzeit modernsten Strategien zur Validierung, Test, Debugging, sowie zur Programmierung komplexer Boards und Systeme, können über den gesamten Produktlebenszyklus eingesetzt werden und ermöglichen verbesserte Testabdeckung bei verringerten Kosten.

www.goepel.com/

 



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