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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Boundary Scan TAP-Transceiver im Rack-Format
Der TAP-Transceiver bildet das Systeminterface zum Testobjekt und wird von einem zentralen SCANFLEX Controller angesteuert. Die 19-Zoll-Version mit 16 TAPs nutzt externe Testköpfe, welche eine sichere Signalübertragung bei Entfernungen von bis zu 4 Metern möglich macht. Durch die moderne Architektur werden sämtliche Technologien zum Embedded System Access (ESA) unterstützt. Mithilfe dieses Verfahrens lassen sich Produktionstests, Flash-Programmierung und PLD ohne Einsatz von Nadeln oder Proben realisieren. Das SFX-TAP16/G-RM-FXT wurde speziell für sogenannte Gang-Applikationen entwickelt. Bei dieser Methode werden mehrere UUTs gleichzeitig getestet oder programmiert. Dadurch werden mit nur einem System der Produktionsdurchsatz gesteigert und Investitionskosten in der Massenproduktion gesenkt. Der TAP-Transceiver kann flexibel an nahezu jede Umgebung und Anwendung angepasst werden, darüber hinaus können unterschiedliche Test- und Programmierstrategien des Embedded System Access frei kombiniert werden. Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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