Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Boundary Scan Produktionstester

Goepel Juliet201. Juni 2015 - GÖPEL electronic stellt mit JULIET Series2 eine neue Generation von Boundary Scan Produktionstestern vor. Das kompakte Auftischgerät verfügt über eine komplett integrierte Boundary Scan Testelektronik, Stromversorgung und ein Wechseladaptersystem zur flexiblen Kontaktierung des Prüflings. Das neue JULIET (JTAG UnLimItEd Tester) Series2 eignet sich besonders für den Produktionstest im unteren bis mittleren Volumenbereich sowie für Reparatur.

Darüber hinaus unterstützen die JULIET-Systeme sämtliche Embedded Access Technologien (ESA) und sind für komplexe Baugruppen prädestiniert. Sie können universell zur Programmierung von nichtflüchtigen Speichern (wie z.B. Flash und MCU) eingesetzt werden.

Aufgrund der neuen Mixed-Signal Architektur der Testerkanäle wird die Funktionalität hinsichtlich dynamischer Struktur- und Clustertests deutlich erweitert. In Verbindung mit den neuen Boundary Scan Features ermöglicht das JULIET Series2 eine wesentliche Verbesserung der Fehlerabdeckung. Durch die Kompatibilität der Hard- und Software können Programmier- und Testprozeduren von der Prototyp-Phase direkt in die Produktion übernommen werden. Das JULIET Series2 ist abwärtskompatibel zur bereits existierenden Produktfamilie.

Sämtliche JULIET-Systeme bieten flexibel programmierbare Versorgungsspannungen inkl. Strommessung für den Anschluss bis zu vier paralleler Target-Applikationen. Eine integrierte Wechselkassetten-Mechanik mit Typerkennung erlaubt standardisierte Prüflings-Adaptierungen über Nadelkontakte oder Steckverbinder bei gleichzeitigem Zugriff auf alle Interface-Signale auch im aktiven Zustand. Dadurch wird das selektive Monitoring kritischer Signale enorm vereinfacht und das Debugging effektiver. Auf dieser Basis ist ein breitbandiger Einsatz der Systeme in einer Vielzahl unterschiedlicher Märkte und Applikationen gegeben.

www.goepel.com/



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung