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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Neue Generation von JTAG/Boundary-Scan-Controllern
Durch die multifunktionale Architektur der SCANFLEX II Cube kann der Anwender zahlreiche Technologien flexibel und mit hoher Performance auf nur einer Plattform kombinieren. Embedded Board Test bietet den Vorteil einer deutlich verbesserten Prüftiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln. So kann beispielsweise ein Embedded Functional Test realisiert werden, während Embedded Programming externe Programmer überflüssig machen. Durch acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100MHz gelingt die synchronisierten Ausführungen von Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Embedded JTAG Solutions (Boundary Scan, Prozessor Emulation, Chip Embedded Instruments). SCANFLEX II Cube kann über USB 3.0, Gbit LAN und Cabled PCI Express angesteuert werden. www.goepel.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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