|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Funktionstest von DDR2-SO-DIMM-Speichern22. Februar 2019 - GÖPEL electronic stellt zwei neue Erweiterungs-Testmodule zur Prüfung von DDR2 SO-DIMM und DDR2 SO-RDIMM-Speichern vor. Die Module werden in die Boundary Scan Kette eingebunden und überprüfen nicht nur die Verbindung, sondern führen komplette RAM-Zellentests aus. Mit den Testmodulen lassen sich Standard-DDR2-Speicher sowohl auf korrekte Bestückung als auch funktional unter der jeweiligen Geschwindigkeit des RAM-Moduls testen. Dafür stehen vorgefertigte Testmuster zur Verfügung; Die Ansteuerung erfolgt über die Embedded JTAG Solutions Software „SYSTEM CASCON“, kann optional aber auch über eine zusätzliche Hardware erfolgen. Die Testmodule unterstützen SO-DIMM-Module von 128MB bis zu 2GB mit einer maximalen Taktrate von 333MHz (666 DDR). Sämtliche SPD-Daten aus dem EEPROM der SO-DIMM-Module werden ebenfalls ausgelesen und stehen im Testprogramm zu Dokumentations- und Testzwecken zur Verfügung. Die speziellen Testsockel erlauben eine sehr hohe Steckzyklen-Zahl von mindestens 10.000 Zyklen. Die notwendige Firmware wird automatisch nach dem Einschalten der Stromversorgung in die SO-DIMM -Tester geladen, so dass diese sofort betriebsbereit sind. Durch Firmware-Updates sind auch zukünftige Erweiterungen problemlos möglich. Während des Testablaufes zeigen mehrere Status-LEDs die aktuellen Betriebszustände an. Die Stromversorgung erfolgt über ein mitgeliefertes Netzteil. Die Testmodule eignen sich insbesondere für obsolete Bauelemente und lange gelagerte SO-DIMM-Module und sind ein wichtiges Instrument zur Prüfung der Betriebssicherheit. www.goepel.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |