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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Boundary Scan Debug-Interfaces für Prozessor-Emulationstest

01. Juni 2010 - GÖPEL electronic präsentiert unter dem Namen TIC020 eine weitere TAP Interface Card (TIC) für die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX®. Das neue TIC-Modul verfügt über ein programmierbares Multi-Bus Interface, welches eine fast unbegrenzte Kompatibilität zu einer Vielzahl von standardisierten und proprietären Test- und Debug-Protokollen und damit auch zu mehreren tausend Microcontrollern ermöglicht.

„Mit unserer neuen TIC-Hardware erzielen wir in der Fusion von Boundary Scan und Prozessor Emulation eine völlig neue Qualität und können nun fast jede Art von Target und fast jede Applikation mit dem gleichen Interface unterstützen", freut sich Thomas Wenzel, Mitbegründer von GÖPEL electronic und Geschäftsführer der JTAG/Boundary Scan Division. „Damit sind wir der erste Anbieter einer derart universellen Lösung und leisten Schrittmacherdienste in der vertieften Anwendung von Prozessor-assistierten Test- und Programmierstrategien auf Board- und Systemlevel. Zusätzlich beweist unsere prämierte SCANFLEX® Plattform bei dieser Innovation einmal mehr ihre zukunftsorientierte Architektur".

Das TIC020 wurde speziell zum kombinierten Einsatz mit der adaptiven Streaming Technik VarioTAP® entwickelt und verfügt neben den eigentlichen Bus-Signalen auch über eine Reihe zusätzlicher Emulationssignale, welche sich flexibel in eine Streaming-Prozedur einbinden lassen. Dadurch ist das TIC020 in der Lage, verschiedenste Protokolle und Target Interfaces abzudecken. Dazu gehören Standards wie IEEE1149.1, IEEE1149.6, IEEE1149.7, IEEE1532 und IEEE-ISTO 5001, sowie eine Fülle von non JTAG Interfaces wie BDM (Background Debug Mode) von Freescale®, DAP (Device Access Port) von Infineon®, SBW (Spy-Bi-Wire) von Texas Instruments®, SWD (Serial Wire Debug) von ARM® und viele weitere.

Da SCANFLEX® - im Gegensatz zu anderen Systemen - auf einer echt parallel angesteuerten TAP-Architektur basiert und keine interne Kaskadierung der Scanketten vornimmt, sind auch Applikationen mit mehreren verschiedenen non JTAG Targets durch Einsatz multipler TIC020 realisierbar. So unterstützt beispielsweise der TAP-Transceiver SFX-TAP8 bis zu acht unabhängige Interfaces, die von VarioTAP® entweder separat oder bei Gang Applikationen auch  vollsynchron angesteuert werden.

Die neue Lösung bringt Anwendern Vorteile sowohl im Labor als auch in der Produktion. So können Prototypen per MCU Debug-Port noch schneller und umfassender getestet und validiert werden, wobei keine Firmware notwendig ist. Gleichzeitig erhöhen sich in der Produktion insbesondere die dynamische Fehlerabdeckung und damit die Teststiefe insgesamt. Darüber hinaus sind sämtliche Test- und Programmierprozeduren auf der gleichen Plattform und ohne Einsatz prozessorspezifischer Pods ausführbar, was das Handling erleichtert, Kosten senkt und die Prozess-Effektivität steigert.

Das neue Mitglied in der Familie von TIC Modulen ist Formfaktor kompatibel zu existierenden  TAP Interface Cards der ersten Generation, wodurch vorhandene SCANFLEX® TAP-Transceiver durch den Anwender einfach aufrüstbar sind. Auch die elektrischen Eigenschaften wie flexible Programmierbarkeit der I/O Signale und Kompensation der dynamischen Laufzeitverzögerungen sind kompatibel. Softwareseitig wird das TIC020 von der JTAG/Boundary Scan Software SYSTEM CASCONTM unterstützt und durch das AutoDetect Feature automatisch erkannt. Das TIC020 Modul selbst ist im vierten Quartal 2010 verfügbar.

www.goepel.com


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