|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
In-System Emulationstechnik für Power PCTM Architektur05. Mai 2009 - GÖPEL electronic hat eine speziellen Modellbibliothek zur Emulation der auf einer Power PCTM Architektur basierenden Automotive Prozessoren MPC55xx von Freescale® mittels Boundary Scan Verfahren entwickelt. Die als VarioTAP® Modell bezeichneten Bibliotheken sind modular als intelligente IP strukturiert und ermöglichen eine vollständige Fusion von Boundary Scan Test und JTAG Emulation. Auf dieser Basis können auch embedded oder externe Flash über die native Prozessorfunktion In-System programmiert werden. Außerdem unterstützt VarioTAP® interlaced Bus Emulation Tests (BET) und System Emulation Tests (SET) für erweiterte JTAG Boundary Scan Funktionalität.„Anwender der Automotive Power PC Familie MPC55xx sind jetzt erstmals in der Lage Boundary Scan Tests, High Speed Flash Programmierung, PLD-Programmierung, Interfacetests und dynamische Emulationstests auf Basis einer einzigen multivalenten Systemplattform zu kombinieren. Dabei sind die jetzt verfügbaren VarioTAP® Modelle nur eine erste Etappe in unserem Entwicklungsprogramm, weitere Power PCTM Implementierungen werden bis Ende des Jahres schrittweise unterstützt", erklärt Thomas Wenzel Mitbegründer von GÖPEL electronic und Geschäftsführer der Boundary Scan Division Die VarioTAP® IP-Modelle für die MPC55xx Familie unterstützen alle denkbaren Scan Chain Konfiguration bis hin zu Multi-Prozessor Applikationen. Die Prozessoren können hierbei auch unterschiedlichen Typs oder im lokalen Pfad eines Scan Routers implementiert sein. Die adaptive Streamingtechnik der TAP-Signale eröffnet die Möglichkeit in einem Testprogramm Emulationstests parallel oder interaktiv zu Boundary Scan Tests auszuführen. Die Anzahl der Boundary Scan IC und der Scanzellen, sowie die Zahl der TAPs sind dabei praktisch nicht limitiert. www.goepel.comWeitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |