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PXI-Systemplattform ermöglicht Boundary Scan, MDA und Funktionstest

06. Mai 2009 - Anlässlich der Fachmesse SMT/Hybrid/Packaging zeigen GÖPEL electronic, National Instruments und Elowerk eine PXI/PXI Express Plattform für einen kombinierten Boundary Scan, MDA und Funktionstest.

Das System ist aus Standard-Komponenten im PXI Format (3HE) aufgebaut und nutzt eine Standard Rack-Architektur mit 18 Slots und embedded Controller von National Instruments. Zur beispielhaften Demonstration wurden diverse PXI und PXI Express Instrumente von Elowerk, GÖPEL electronic und National Instruments unter Steuerung von TestStand^TM integriert.

Der demonstrierte Testablauf führt im ersten Schritt einen strukturellen MDA-Test (Elowerk) im spannungslosen Zustand der Unit Under Test (UUT) über Nadelkontaktierung aus, um vor allem Fertigungsfehler bei analogen Komponenten zu lokalisieren. Dabei sind kleinste Parameter wie pF, µH und mOhm mit geringen Messunsicherheiten erfassbar. Auch parallel geschaltete Komponenten (z.B. R/C) werden durch die neue Stimulierungs-Technik präzise ausgemessen. Prinzipiell stehen 320 MDA Kanäle zur Verfügung.

Anschließend erfolgt ein Power Up, inklusive Messung der Stromaufnahme der UUT, über das bis 5V/10A programmierbare Dual Channel Power Supply PXI5120 (GÖPEL electronic). Diverse On-Board Spannungen sind dann durch das NI PXI-4070 FlexDMM (National Instruments), einem digitalen Multi-Meter mit 6 Digits, verifizierbar.

Ist dieser Schritt erfolgreich abgeschlossen, wird der SFX/PXIe1149, ein Boundary Scan Controller auf PXI Express Basis mit SCANFLEX® Architektur (GÖPEL electronic), aktiviert. Über JTAG/Boundary Scan erfolgt der strukturelle Test der digitalen Schaltungspartitionen, die Programmierung von Flash und PLD, sowie die Ausführung von VarioTAP® Aktionen zum dynamischen At-Speed Emulation Test. Dabei wird auch das PXI5396 (GÖPEL electronic), ein JTAG Digital I/O Modul mit 96 Kanälen zum statischen und dynamischen Test von Interfaces bis 100MHz, einbezogen.

Den Abschluss bilden die Funktionstests von analogen Interfaces über das NI PXIe-5122 (National Instruments), einem 2-Kanal Digitizer auf Basis PXI Express mit 100MS/s.

Damit zeigt der Testablauf beispielhaft, wie durch das Zusammenwirken modernster PXI Komponenten erfolgreich eine hohe Fehlerabdeckung und System-Multivalenz durch Kombination struktureller und funktionaler Board-Teststrategien mit zusätzlichen In-System-Programmierstrategien (ISP) realisiert werden kann.

Die Software-Architektur ist primär definiert durch TestStand^TM (National Instruments) als zentrales Steuerelement mit Einbindung einer Run Time Edition der JTAG/Boundary Scan Software SYSTEM CASCON^TM (GÖEPEL electronic) und Integration des TestBuilders^TM (Elowerk) für den MDA Part.

www.goepel.com