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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Leiterplattentest mit Netzwerk-Analysator

Agilent-E5063A10. Februar 2014 - Agilent hat einen neuen Netzwerkanalysator E5063A speziell für Leiterplattentests in der Produktion auf den Markt gebracht. Nachdem die Taktsignale und Datenraten immer mehr steigen, Antennen auf Leiterplatten realisiert und differentielle Signale auf den Leiterplatten geführt werden, kommt dem „Bauteil“ Leiterplatte eine erhebliche Bedeutung zu. Dadurch sind immer häufiger Impedanztests notwendig, um Laufzeitunterschiede feststellen zu können.

Mit dem neuen Netzwerk-Analysator E5063A von Agilent werden eine sehr hohe Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit der Messung als auch Vergleichbarkeit von unterschiedlichen Messungen (R&R) erreicht. Ferner bietet der Analysator auch eine erheblich bessere Robustheit gegenüber elektrostatischer Entladung.

Engere Impedanz-Toleranzen sind ein direktes Resultat von hohen Datenraten. Daher werden immer höhere Anforderungen an die Genauigkeit gestellt. Und dies erfordert bessere Signal-Integrität und damit auch Impedanztests. Ausgeklügelte Verfahren für eine Fehlerkorrektur zur Kompensation systembedingter Fehler als auch von angeschlossenen Kabeln etc. Ferner wird durch ein Kalibrations-Modul ECal ein Kalibrations-Ablauf erleichtert und die Genauigkeit deutlich gesteigert, wodurch sich die Ausbeute in der Produktion verbessert.

Der neue E5063A ist in 3 Versionen mit jeweils 100 kHz bis 4,5 GHz, 8,5 GHz und 18 GHz erhältlich. Alle Versionen erlauben 2-Tor-Messungen (50 Ω) und S-Parameter-Messungen. Der Dynamik-Bereich wird mit 117 dBm und das Basisrauschen mit 0,005 dBrms und eine Stabilität von 0,01 dB/°C spezifiziert.

Mit der Option 011 (Zeitbereichsanalyse und Test-Wizard) lassen sich die Ergebnisse auch im Zeitbereich darstellen. Impedanzverläufe, Fehlstellen und Ankopplungen an Steckersystemen werden dadurch wesentlich leichter und schneller qualifiziert.

 Über dataTec sind diese Geräte ab sofort lieferbar.

www.datatec.de/  

www.agilent.com/



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