Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Embedded JTAG Solutions für Flying Probe Tester

Spea 406021. April 2017 - GÖPEL electronic erweitert die Unterstützung der Embedded-JTAG-Solutions-Technologie für die SPEA4060 Flying Probe Tester. Dadurch sind nun auch analoge Pinkarten des Flying Probe Testsystems (FPT) im digitalen Boundary-Scan-Test nutzbar. Daraus resultiert eine noch höhere Testabdeckung.

Mit dem Flying Probe Testverfahren können diskrete analoge Bauteile flexibel getestet werden. Die Kombination mit den GÖPEL electronic Embedded JTAG Solutions eröffnet zahlreiche Möglichkeiten für einen erweiterten, interaktiven Test. Bisher konnten ausschließlich digitale Ressourcen des SPEA4060 im JTAG/Boundary Scan Test dafür genutzt werden. Anwender, welche ausschließlich analoge Pinkarten im FPT-System nutzten, konnten somit nicht von den Vorteilen der zwei kombinierten Testtechnologien profitieren.

Aufgrund der langjährigen, engen Zusammenarbeit zwischen SPEA und GÖPEL electronic steht dem Kunden ein ausgereiftes und etabliertes Paket aus Hard- und Software zur Verfügung, welches sich ideal in den SPEA4060 Flying Probe Tester integrieren lässt. Die kostengünstigeren analogen Pinkarten bieten potentiellen Kunden auch einen enormen Preisvorteil bei der Nutzung einer Systemintegration mit GÖPEL electronic.

www.goepel.com/



Aktuelle Termine

TUZ Workshop
24. bis 26. Februar 2019
zur Terminübersicht...
embedded world 2019
26. Februar bis 28. Februar 2019
zur Terminübersicht...
Hightech auf dem Olympiaturm
15. bis 16. März 2019
zur Terminübersicht...