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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

3D AOI-System mit künstlicher Intelligenz

Mek M1 AOI21. November 2019 - Eine der größten Herausforderungen bei der Programmierung von AOI-Systemen (Automatic Optical Inspection) ist die Herausforderung, dass, je genauer geprüft wird, desto mehr Pseudofehler erzeugt werden. Dies führt häufig zu einer langen Debuggingzeit und einer komplexen Programmierung. Das voll 3D AOI-System vom Typ ISO-Spector M1A von Mek (Marantz Electronics) nutzt einen selbstlernenden Algorithmus für die Lötstellenprüfung, der Abweichungen außerhalb der zu erwarteten Standardlötstelle erkennt.

Eine proprietäre Lösung mit künstlicher Intelligenz überwacht kontinuierlich und zentral die Produktion und passt bei Bedarf Hunderte von Toleranzwerten an, um die Erkennung zu maximieren und Pseudofehler zu minimieren. Der Programmierer muss nicht die spezifischen Gegebenheiten, Lichteinstellungen oder Abnahmekriterien angeben. Dies reduziert nicht nur die Programmierzeit, sondern eliminiert auch die Einflüsse des Programmierers um sicherzustellen, dass die Prüfergebnisse zuverlässig sind.

www.marantz-electronics.com/



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