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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News400GE-Testlösung zur Validierung von älteren 100GE-Geräten und -Netzwerken
Speichertester mit integrierter Burn-In-Testfunktion
Neue Generation des Softing Diagnostic Tool Set
Hintergrund - Einsatz von FPGAs in Hardware-in-the-Loop-AnwendungenBei eingebetteten Systemen, wie beispielsweise Automotive-Steuergeräte, ist ein rasanter technischer Fortschritt zu beobachten. Dabei steigen die Komplexität der Funktionen und der Entwicklungsaufwand stetig. Auch stellen derartige Systeme vor allem im Bereich der Signalerfassung, -verarbeitung und -ausgabe sehr hohe Anforderungen an den Test. Um die notwendige Testtiefe wirtschaftlich erreichen zu können, ist eine höchstmögliche Automatisierung erforderlich. LXinstruments baut Vertrieb weiter aus16. Juli 2020 - Uwe Schwartz verstärkt seit dem 01. Juli 2020 den Bereich Power und Batterietest bei LXinstruments in Sindelfingen. Der schwäbische Mittelständler LXinstruments setzt trotz schwieriger Zeiten voll auf die Sparte Power, Batterietest und Impedanzspektroskopie und erweitert den Vertrieb um den in diesen Bereichen erfahrenen Uwe Schwartz. Optische Waferprüfung für uLEDs
ECU-Testsystem für Funktionsprüfungen14. Juli 2020 – NI (National Instruments) hat ein integriertes ECU-Testsystem vorgestellt, das die Funktionsprüfungen optimieren soll. Das ECU-Testsystem (ECUTS) basiert auf einem modularen PXI-System, wodurch sich die Tests je nach gewählter Instrumentierung flexibel für unterschiedlichste Karosserie-, Chassis- und Antriebsstrang-ECUs anpassen lassen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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22 Juli 2020 – Keysight Technologies präsentiert die erste, kosteneffiziente Testlösung, mit der die Betreiber von Rechenzentren 400GE- (400-Gigabit-Ethernet-) fähige Testports mit älteren 100GE-Netzwerkgeräten verbinden und testen können. Die neue Testlösung besteht aus dem Ixia AresONE 400GE High Performance Layer-1-bis-3-Testsystem von Keysight, das auf PAM4-Signale (Pulse Amplitude Modulation Level 4) basiert und mit den Ports älterer 100GE-NRZ- (Non-Return-to-Zero-) Netzwerkgeräte durch Verwendung der HiWire Active-Electrical-Cable- (AEC-) Technologie von Credo verbunden werden kann.
21. Juli 2020 – Advantest hat seine H5600-Speichertester-Familie um das vielseitige Testsystem H5620ES erweitert. Das Testsystem ist sowohl für Burn-in von Hochgeschwindigkeits-ICs als auch für den Speichertest der DDR4- und nachfolgenden DDR5-Generation unter Laborumgebungen ausgelegt. Zudem unterstützt es Low-Power-Double-Data-Rate ICs (LPDDR). Durch Rationalisierung des benötigten Zubehörs, sowie Verkürzung der benötigten Zeit zwischen Burn-in und Speichertests, werden die Testkosten für die Evaluierung von Speicherchips für 5G Anwendungen drastisch gesenkt.
20. Juli 2020 – Nach erfolgreicher Einführung bei Erstkunden steht nun die neue Generation des Diagnostic Tool Sets (Softing DTS 9) zur Verfügung. Sie ermöglicht durch neue Funktionalitäten eine noch schnellere und kosteneffizientere Diagnoseentwicklung – die richtige Antwort auf die wachsende Komplexität der E/E-Architekturen und die kürzer werdenden Produktentstehungszyklen. Softing DTS.monaco ermöglicht die Erstellung konsistenter Diagnosefunktionen und -abläufe auf der Basis internationaler Standards und kann über die gesamte Wertschöpfungskette sicherstellen, dass die Diagnosekommunikation zuverlässig funktioniert.
15. Juli 2020 – Instrument Systems bietet für μLED-Wafertesting eine einzigartige kamerabasierte Messlösung an, die 2-dimensional, pixelgenau und innerhalb vorgegebener Taktzeiten optische Analysen erstellt. Die LumiTop 4000 besitzt eine 12 MP Auflösung und detektiert kleinste Defekte und Inhomogenitäten auf dem Wafer. Dank 100 mm Makro-Objektiv ermöglicht die Kamera eine schnelle parallele Inline-Analyse aller μLEDs auf einem Wafer in einer einzigen Teststation.