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Top 5 News der letzten 30 Tage
- 05. Mai 2017 - Hintergrund: Charakterisierung des dynamischen Stromverbrauchs und der Batterielaufzeit von IoT-Geräten
- 26. April 2017 - Funktionsgenerator mit vielen Funktionen
- 25. April 2017 - SMT Hybrid Packaging 2017: Neue Hallenbelegung und zusätzlicher Gemeinschaftsstand
- 09. Mai 2017 - ASK/FSK-Demodulations- und Analyse-Software für IoT-Geräte
- 02. Mai 2017 - Offener Datenaustausch zwischen Inspektionssystemen
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
GPS Technologies stellt neues 3D-Lotpasteninspektionssystem vor
GPS Technologies präsentiert zur SMT 2009 in Nürnberg das neue 3-D Lotpasten-Inspektionssystem CyberOptics SE500TM.
Viscom ermöglicht AOI/AXI-Kombiprüfung für große Baugruppen
31. März 2009 - Das leistungsstarke Inspektionssystem X7056 von Viscom ist jetzt auch in der Version X7056RL für Baugruppen bis zu einer Größe von 610 x 508 mm verfügbar. Das Prüfsystem erlaubt eine parallele AOI- und AXI-Prüfung. Sowohl sichtbare als auch verdeckte Fehler werden so zuverlässig erkannt.
JTAG erweitert Produktions-Programmierung auf digitale Signal-Controller von Texas Instruments
25. März 2009 - JTAG Technologies hat seine ISP-Unterstützung (In-System-Programmierung) auf eine Reihe von populären DSCs (Digital Signal Controller) von Texas Instruments ausgeweitet.
Keithley erweitert Halbleiter-Charakterisierungssystem für den Test von Solarzellen
20. März 2009 - Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade beinhaltet neun neue Testbibliotheken, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion und eine Unterstützung für das neue Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen.
Digitaltest bietet jetzt auch Lohntest an
11. März 2009 - Digitaltest GmbH hat im Schulungs- und Service-Zentrum Grünwettersbach eine neue Abteilung für Lohntest aufgebaut. 
TSK Prüfsysteme präsentiert neue Kabeltester
06. April 2009 - Die TSK Prüfsysteme mit Sitz in Porta Westfalica stellt mit den Modellen CT15i und CT12 zwei neue Kabeltester vor, die viele zusätzliche Funktionen enthalten.
phoenix|x-ray präsentiert hochauflösendes µAXI
30. März 2009 - phoenix|x-ray zeigt auf der SMT 2009 das neue CAD-basierte hochauflösende µAXI für eine maximale Fehlererkennung.Weitere Beiträge ...
- Boundary Scan Software-Plattform für hierarchischen Board Test
- Aeroflex übernimmt VI Technology
- Konrad Technologies entwickelt Protokoll-basiertes Testsystem für RFID-Komponenten
- Keithley bietet attraktive Sonderkonditionen an
- Neue Module für die Digitaltest MTS System-Familie
- RoodMicrotec verzeichnet Umsatzsteigerung
- Konrad Technologies stellt HALT/HASS Testsystem für die Luftfahrtindustrie vor
- AdoptSMT beschafft künftig auch Ersatzteile
- Pickering Interfaces stellt neue PXI Chassis vor
- Boundary Scan Plattform für SPEA In-Circuit-Tester
- Infineon Technologies tritt dem Semiconductor Test Consortium bei
- Basler steigt in den Solarmarkt ein
- Pickering Interfaces bietet neue PCI-Präzisionswiderstandsdekade an
- Testsystem für 24GHz Blind-Spot-Radarsysteme
- Agilent zieht sich aus dem AOI- und AXI-Geschäft zurück
Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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