|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Quelle-Senke mit 3,5 kW bis 10 KW Leistung und Netz-Rückspeisung14. Mai 2014 - Mit den neuen, rückspeisenden, elektronischen DC-Lasten der HEA-ELR9000 Serie lassen sich in Kombination mit der HEA-PS(I)9000 Netzgeräte Serie sehr flexible Quelle-Senken Systeme mit Netz-Rückspeisung aufbauen. Die Spannungs-, Strom- und Leistungsstufen von Quelle und Senke können modular den Anforderungen angepasst werden. Die Lasten unterstützen die vier typischen Betriebsmodi CC, CV, CP und CR. Beide Geräte sind bei HEIDEN Power erhältlich.
AMETEK übernimmt Teseq Gruppe13. Mai 2014 - AMETEK, Inc. hat die Teseq Gruppe, einen Hersteller von Test- und Messtechnik für elektromagnetische Verträglichkeitsprüfungen (EMV) erworben. Teseq wird Teil der Electronic Instruments Group (EIG) von AMETEK, die unter anderem Überwachungs-, Prüf-, Kalibrier- und Anzeigeinstrumente herstellt und in 2012 einen Umsatz von 1,9 Milliarden Dollar erzielte.
AOI mit schattenfreier 3D-Messtechnologie13. Mai 2014 - GÖPEL electronic hat auf der SMT/Hybrid/Packaging in den Systemen der OptiCon AdvancedLine 3D Produktlinie erstmalig ein telezentrisches Messverfahren zur dreidimensionalen Erfassung von Bauteilen und Lötstellen präsentiert. Neben den 2D-Inspektionsaufgaben eines Standard-AOI-Systems können nun auch Lötvolumen und Benetzungswinkel von Löstellen sowie Höhe und Koplanarität von Bauteilen mit Systemen der OptiCon-Serie gemessen werden. Weitere Module für konfigurierbaren Funktionstester12. Mai 2014 - Prüftechnik Schneider & Koch hat die Modulauswahl für seine Funktionstester der Ti2CA Compact Serie um eine innovative multifunktionale Messkarte, einen Multiplexer und eine neue Schaltkarte erweitert. Das Ti2CA Compact Funktionstestsystem ist in einem Wechseladaptersystem integriert und zeichnet sich durch ein modulares Design aus. Ein breites Spektrum an leistungsfähigen Hardware-Komponenten ermöglicht vielfältige Ausbau- und Konfigurationsmöglichkeiten.
Agilent präsentiert zwei neu tragbare Oszilloskop-Familien12. Mai 2014 – Agilent Technologies stellt mit der Infiniium S-Serie und der InfiniiVision 6000 X-Serie zwei neue Familien tragbarer Hochleistungsoszilloskope vor. Die Infiniium S-Serie setzt einen neuen Maßstab für die Signalintegrität bei Bandbreiten bis zu 8 GHz; die InfiniiVision 6000 X-Serie setzt einen neuen Maßstab für das Preis/Leistungsverhältnis bei Bandbreiten bis zu 6 GHz.
Ultraportable Kalibratoren für mehrere Parameter09. Mai 2014 - Neu der Compumess Elektronik (CME) hat die ultraportablen Kalibratoren der Serie 1000 von Transmille ins Sortiment aufgenommen. Diese Geräte ermöglichen erstmals eine umfassenden Kalibrierung vor Ort. Die Idee einer Vor-Ort-Kalibrierung scheiterte bislang an der Größe und am Gewicht der Geräte. Die neue 1000-Serie ist dagegen in einem handlichen Koffer und einem Gewicht von nur 9,2 kg leicht zu transportieren.
32Gbit/s BER-Tester mit integrierter Taktrückgewinnung09. Mai 2014 – Anritsu hat neue Taktrückgewinnungsoptionen für seinen Signalqualitätsanalysator (SQA) MP1800A auf den Markt gebracht, mit dem Bit-Error-Rate-Messungen (BER-Messungen) von Highspeed-Datenverbindungen bei bis zu 32,1 Gbit/s mit einem einzigen Messgerät möglich sind. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |