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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsStanTronic Instruments vertreibt HF-Produktlinie von Transcom Instruments20. März 2014 - StanTronic Instruments GmbH mit Sitz in der Wedemark bei Hannover und Vertriebsbüros in Wertheim/Süddeutschland, Frankreich und Grossbritannien hat mit Transcom Instruments, einem in Shanghai/China ansässigen Anbieter von HF-Messtechnik, eine Vertriebsvereinbarung für Deutschland, Österreich, die Schweiz, England und Frankreich unterzeichnet.
OpenTop Test Contactor für BGA/CSP, SOP und QFP Bauteile20. März 2014 – Yamaichi Electronics präsentiert den neuen OpenTop Test Contactor der YED274 Serie für BGA/CSP, SOP und QFP Halbleiterbausteine. Der Test Contactor eignet sich sowohl zum manuellen als auch automatischen Beladen von Halbleiterbausteinen. Ein typischer Anwendungsfall ist die Programmierung von Speicherbausteinen.
Digitale Kanalkarte für den Test von extrem schnellen SerDes-Halbleitern19. März 2014 - Advantest hat die neue digitale Pin Scale Serial Link (PSSL) Kanalkarte für die At-Speed-Charakterisierung und die Serienproduktion von aktuellen Hochgeschwindigkeits-Halbleitern vorgestellt. PSSL ist das derzeit schnellste voll integrierte ATE-Instrument (Automated Test Equipment) und unterstützt Datenraten bis zu 16 Gbps.
Messung der Abstrahlcharakteristik von großen Leuchten19. März 2014 – Mit dem LGS 1000 von Instrument Systems lassen sich Abstrahlcharakteristiken von großen LED-Modulen, Solid-State-Lighting (SSL) Produkten sowie Lampen und Leuchten winkelabhängig bestimmen. Das LGS 1000 kann sowohl zusammen mit einem Photometer als klassisches Goniophotometer als auch mit einem Spektrometer als hochwertiges Goniospektralradiometer betrieben werden. Auf diese Weise ist es in der Lage, alle wichtigen Kenngrößen wie Lichtstärkeverteilungen, Lichtstrom, Farbkoordinaten und sogar den Farbwiedergabeindex zu bestimmen.
EMV-Tests an Multimediageräten nach der neuen CISPR 3518. März 2014 — Noch in diesem Frühjahr soll die EMV-Norm CISPR 35 verabschiedet werden. Sie schreibt vor, wie Multimedia-Equipment künftig mit Störsignalen getestet werden soll. Die neue CISPR 35 wird die bisher gültigen EMV-Testnormen für Geräte und Komponenten aus dem IT-Bereich (CISPR 24) und aus dem Consumer-Elektronik-Bereich (CISPR 20) vereinen. Rohde & Schwarz wird mit der Verabschiedung des Standards die Option R&S EMC32-K35 für seine EMV-Testsoftware R&S EMC32 auf den Markt bringen.
40 Gigabit BERT für Test von Datenkommunikation18. März 2014 - Tektronix hat den ersten voll integrierten programmierbaren Pattern-Generator (PPG) für 40 Gigabit der Industrie vorgestellt. Dieser ermöglicht zusammen mit dem kürzlich vorgestellten 40G-programmierbaren Fehlerdetektor nun eine vollständige BERT-Lösung für Datenraten bis zu 40 Gigabit pro Sekunde. Mit 200 fs Random Jitter (RJ) und einer Anstiegszeit von 8 ps bietet der neue Tektronix PPG4001 die für einen Test serieller Daten mit 40 Gbit/s notwendige Leistung und Signalqualität.
Optischer Spektrumanalysator für den Wellenlängenbereich 600-1700nm17. März 2014 - Der neue kompakte Spektrumanalysator AQ6370D von Yokogawa bietet gegenüber dem Vorgängermodell AQ6370C eine Vielzahl von neuen Funktionen, mit welchen im Wellenlängenbereich von 600-1700nm die Messgenauigkeit erhöht und die Analysefunktionen erweitert werden. Die neuen Funktionen beinhalten Datenlogging, Gate Sampling, die Auflösekalibrierung und erweiterte Marker- und Auto-Sweep-Funktionen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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