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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Sichere Hochspannungs-Durchbruchtests bis zu 10 kV28. März 2014 - Keithley Instruments stellt zwei neue Hochspannungs-Stromversorgungen vor, die für Hochspannungsbauelemente und die Materialprüfung sowie die Hochenergie-Physik und Materialforschung optimiert wurden. Die Stromversorgungen Modell 2290-5 5 kV und Modell 2290-10 10 kV sind ideal für einen Hochspannungs-Durchbruchtest von Leistungshalbleitern geeignet. Hierzu gehören Bauelemente der aktuellen und künftigen Generation von Materialien mit großer Bandlücke, wie Siliciumkarbid (SIC) und Gallium-Nitrid (GaN).
Oszilloskope speziell für den Ausbildungsbereich27. März 2014 - Tektronix stellt die neuen 2-Kanal-Oszilloskope TBS1000B-EDU und TBS1000B der Einstiegsklasse vor. Durch verschiedene Verbesserungen, wie ein hochauflösendes 7"-Display, einen zweikanaligen Frequenzzähler und 34 automatisierte Messfunktionen, bieten die neuen Instrumente ein außergewöhnliches Preis-Leistungs-Verhältnis. Die Geräte eignen sich besonders für den Ausbildungsbereich aber auch für vielfältige kommerzielle Anwendungen sowie für die Forschung und Entwicklung.
Software zur Analyse proprietärer Signalformate27. März 2014 - Agilent Technologies hat seine Vektorsignalanalyse-Software 89600 um Funktionen für die Analyse benutzerdefinierter IQ-Modulation erweitert. Die neuen Analysefunktionen vereinfachen die Analyse proprietärer Signalformate für militärische und Satellitenkommunikationsanwendungen und ermöglichen Entwicklern einen schnelleren und tieferen Einblick in ihre Systeme.
Ethernet-Schnittstellen mit dem Oszilloskop verifizieren26. März 2014 - Rohde & Schwarz weitet das Anwendungsfeld der R&S RTO-Oszilloskope auf den Test von Ethernet-Schnittstellen aus. Mit den neuen Ethernet-Compliance-Optionen R&S RTO-K22 und R&S RTO-K23 können Anwender automatisierte Tests von 10/100/1000BASE-T und von 10GBASE-T Ethernet-Schnittstellen normkonform durchführen. Die einzelnen Compliance-Tests erfüllen dabei die IEEE- und ANSI-Testspezifikationen für Ethernet.
Mehrkanaliger Bit-Error-Rate-Test mit FPGA Embedded Instruments26. März 2014 - GÖPEL electronic hat neue Funktionen für einen parallelen Multi-Channel Bit Error Rate Test (BERT) mit seiner IP-basierenden ChipVORX-Technologie entwickelt. Die hochautomatisierte Lösung ermöglicht den Einsatz von FPGA Embedded Instruments in Form von speziellen Softcores zum Test und zur Design-Validierung von Multi-Channel Highspeed-I/O und seriellen Bussystemen wie z.B. PCI Express x2/x4/x8/x16. Anwender können dadurch die Qualität der Übertragungskanäle über parallele Messungen der Bitfehlerrate auf allen Kanälen gleichzeitig beurteilen. iPad und iPhone als Messgerät25. März 2014 - Die StanTronic Instruments GmbH hat mit Oscium, einem in den USA ansässigen Hersteller von iPad/iPhone Messgeräteaufsätzen eine Vertriebsvereinbarung gültig für Deutschland, Österreich, die Schweiz, England und Frankreich unterzeichnet. Die Produktlinie von Oscium besteht derzeit aus 5 verschiedenen Messgerätemodulen, die auf die Apple-Produkte iPad bzw. iPhone aufgesteckt werden. Hintergrund: Stabilität von Leiterplatten mit Dehnungsmessstreifen testenGanz gleich, ob in Autos, Nutzfahrzeugen oder Smartphones − Leiterplatten von elektronischen Komponenten müssen viel aushalten, wenn sie mobil im Einsatz sind. Schon durch minimale Risse kann die gesamte Elektronik ausfallen. Damit das nicht passiert, testen die Hersteller die mechanische Stabilität der Leiterplatten mit Dehnungsmessstreifen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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