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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Messung der Abstrahlcharakteristik von großen Leuchten19. März 2014 – Mit dem LGS 1000 von Instrument Systems lassen sich Abstrahlcharakteristiken von großen LED-Modulen, Solid-State-Lighting (SSL) Produkten sowie Lampen und Leuchten winkelabhängig bestimmen. Das LGS 1000 kann sowohl zusammen mit einem Photometer als klassisches Goniophotometer als auch mit einem Spektrometer als hochwertiges Goniospektralradiometer betrieben werden. Auf diese Weise ist es in der Lage, alle wichtigen Kenngrößen wie Lichtstärkeverteilungen, Lichtstrom, Farbkoordinaten und sogar den Farbwiedergabeindex zu bestimmen.
EMV-Tests an Multimediageräten nach der neuen CISPR 3518. März 2014 — Noch in diesem Frühjahr soll die EMV-Norm CISPR 35 verabschiedet werden. Sie schreibt vor, wie Multimedia-Equipment künftig mit Störsignalen getestet werden soll. Die neue CISPR 35 wird die bisher gültigen EMV-Testnormen für Geräte und Komponenten aus dem IT-Bereich (CISPR 24) und aus dem Consumer-Elektronik-Bereich (CISPR 20) vereinen. Rohde & Schwarz wird mit der Verabschiedung des Standards die Option R&S EMC32-K35 für seine EMV-Testsoftware R&S EMC32 auf den Markt bringen.
40 Gigabit BERT für Test von Datenkommunikation18. März 2014 - Tektronix hat den ersten voll integrierten programmierbaren Pattern-Generator (PPG) für 40 Gigabit der Industrie vorgestellt. Dieser ermöglicht zusammen mit dem kürzlich vorgestellten 40G-programmierbaren Fehlerdetektor nun eine vollständige BERT-Lösung für Datenraten bis zu 40 Gigabit pro Sekunde. Mit 200 fs Random Jitter (RJ) und einer Anstiegszeit von 8 ps bietet der neue Tektronix PPG4001 die für einen Test serieller Daten mit 40 Gbit/s notwendige Leistung und Signalqualität.
Optischer Spektrumanalysator für den Wellenlängenbereich 600-1700nm17. März 2014 - Der neue kompakte Spektrumanalysator AQ6370D von Yokogawa bietet gegenüber dem Vorgängermodell AQ6370C eine Vielzahl von neuen Funktionen, mit welchen im Wellenlängenbereich von 600-1700nm die Messgenauigkeit erhöht und die Analysefunktionen erweitert werden. Die neuen Funktionen beinhalten Datenlogging, Gate Sampling, die Auflösekalibrierung und erweiterte Marker- und Auto-Sweep-Funktionen. SO-DIMM Testsockel für DDR2 und DDR314. März 2014 – Mit den neuen Serien CN111S und CN112S bringt Yamaichi Testsockel für DDR2 bzw. DDR3 SO DIMM-Speichermodule für den Produktions- sowie Burn-in-Test auf den Markt. Speziell für Module, die der DDR2 (Double Data Rate) Norm in der Version SO-DIMM (Small Outline Dual Inline Memory Module) entsprechen, wurde der Sockel CN111S entwickelt. Es handelt sich dabei um eine 200-polige 1,8V Version mit einer Bauhhöhe von 5,2mm. Die Kontakte sind standardmäßig goldplatiert.
GÖPEL electronic und Scienscope kooperieren bei Röntgeninspektion14. März 2014 - GÖPEL electronic erweitert sein Röntgensystem-Portfolio durch eine strategische Kooperation mit Scienscope International, einem amerikanischen Hersteller von optischer Messtechnik und halbautomatischen Röntgen-Analysemaschinen. Mit dem wartungsfreien 2,5D-Analysesystem Scope-Line MX von Scienscope kann GÖPEL electronic seinen Kunden damit einen kosteneffizienten Einstieg in die Welt des Röntgens anbieten.
USB-Thermoelement-Leistungssensoren für Frequenzbereich bis 67 GHz13. März 2014 – Agilent Technologies hat seine USB-Thermoelement-Leistungssensorfamilie U8480 um zwei neue Modelle erweitert. Die Leistungssensoren der Familie U8480 decken jetzt den Frequenzbereich bis 67 GHz ab und festigen mit einer auf 900 Messungen pro Sekunde erhöhten Messgeschwindigkeit ihre Position als die derzeit schnellsten USB-Thermoelement-Leistungssensoren der Welt. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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