Aktuelle Test- und Messtechnik-News

PXI/LXI-Lösung zur HIL-Fehlersimulation

05. Juni 2009 - Pickering Interfaces hat zusammen mit dem französischen Unternehmen B2i eine PXI/LXI-basierende Lösung für die Hardware-In-The-Loop-Fehlersimulation von Automotive-Produkten entwickelt.

Tektronix präsentiert Erweiterungen für Spektrumanalysatoren

04. Juni 2009 – Tektronix stellt mehrere Verbesserungen für die Spektrumanalysatoren der Serie RSA6000 vor. Eine Trigger-Technologie und eine DPX-Echtzeit-Signalanalyse ermöglichen beispiellose Diagnosemöglichkeiten und schnellere Problemlösungen.

Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem vor

3. Juni 2009 - Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration seines neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität bietet. Das Testsystem mit der erweiterten Konfiguration ist unter der Produktbezeichnung T5503 8448 Channel Test Head ab sofort erhältlich.

Neuer USB Micro Kontaktierstecker

28. Mai 2009 - ENGMATEC GmbH hat das Standard-Programm für Kontaktierstecker erweitert und bietet neben den vorhandenen Prüfsteckern für USB Stecker Typ A, Typ B, Mini Typ A und Mini Typ B jetzt auch eine Version für den Micro Typ B an.

ATElab vertreibt neuen ICT-Tester von Elowerk

29. Mai 2009 - Die Firma ATElab hat ab sofort den Vertrieb in Süddeutschland für den neuen In-Circuit-Tester Z1 von elowerk GmbH, Hamburg übernommen. Der Tester ist als PXI- oder als microTCA Frame lieferbar und kann über Extender Racks auf bis über 6.400 Pins ausgebaut werden. Das Rack wird per LAN über einen Embedded-Linux-Rechner am PC angeschlossen.

Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern

28. Mai 2009 - Advantest Corporation gehört laut der in jedem Jahr vom Marktforschungsunternehmen VLSI Research Inc. durchgeführten Untersuchung zur Kundenzufriedenheit zum 21. Mal in Folge zu den zehn weltweit führenden Anbietern von Test- und Handling-Systemen.

Rekonfigurierbares PXI-Express Modul für RF-Tests

28. Mai 2009 - National Instruments stellt mit dem Produkt NI PXIe-5641R einen auf LabVIEW FPGA basierenden Transceiver vor, der eine benutzerdefinierte IF-Verarbeitung in RF-Anwendungen ermöglicht.

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