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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsBedienfreundliche Arbitrary/ Funktionsgeneratoren bis 50 MHz04. Dezember 2012 – Tektronix stellt mit der Serie AFG3000C eine neue, einfach zu bedienende Familie von Arbitrary/Funktionsgeneratoren vor und erweitert das Produktspektrum um zwei neue 50 MHz Modelle. Alle Modelle der AFG3000C Serie verfügen über aktive LCD-Displays, mit denen der Anwender Signalparameter und Signalformen einfacher darstellen kann. Instrument Systems GmbH wird Teil von Konica Minolta Optics04. Dezember 2012 - Mit Wirkung zum 1. Dezember hat der Firmeninhaber und Geschäftsführer Richard Distl seine 1986 gegründete Instrument Systems GmbH an die Konica Minolta Optics, Inc. veräußert. In den Verkauf eingeschlossen ist auch die Tochtergesellschaft Optronik Berlin GmbH. Das auf Lichtmesstechnik spezialisierte Münchner Unternehmen erweitert mit seiner erfolgreichen Produktpalette künftig den Bereich Sensing des japanischen Konzerns. Mehrkanalige Quelle-Senke mit Netz-Rückspeisung bis 800 kW03. Dezember 2012 - Die bei HEIDEN power GmbH erhältliche Quelle-Senke mit Netz-Rückspeisung HQSR8 ist ein sehr bewährtes und vielfach eingesetztes System von 10 kW bis einige 100 kW. Gerade im Bereich der Batteriesimulation sind derartige Systeme unverzichtbar geworden. Die HQSR8 wird seit Anfang 2012 nach der Norm EN ISO 13849-1 (SI-Level D) gefertigt. Neu hinzugekommen ist kürzlich eine mehrkanalige Ausführung mit bis zu 4 Kanälen. In-System-Emulationstest für TriCore-Architektur von Infineon03. Dezember 2012 - GÖPEL electronic stellt spezielle Modellbibliotheken für die Mikrocontroller des Typs TC17xx aus der AUDO-Familie von Infineon zur Unterstützung der innovativen Emulationstechnik VarioTAP vor. Die als VarioTAP-Modell bezeichneten Bibliotheken ermöglichen die flexible Ausführung von Prozessor-Emulationstest unter Nutzung des nativen Debug-Interfaces. Anwender können auf dieser Basis auch ohne spezifische Firmware ihre Hardware verifizieren und testen sowie Flash-Speicher programmieren. Wafer MVM-SEM-Tool für Strukturen unter 22 nm30. November 2012 - Advantest hat das neue Wafer MVM-SEM E3310 (Multi-Vision Metrology Scanning Electron Microscope) vorgestellt, das mit Hilfe der proprietären Elektronenstrahl-Scanning-Technologie von Advantest sehr feine Strukturen auf verschiedenen Wafer-Typen mit einer einzigartigen Genauigkeit messen kann. Das System eignet sich für die Prozessentwicklung bei Strukturen mit 1x nm und die Serienproduktion bei Strukturen mit 22 nm und darunter. Controller für Rackmontage und dezentraler PXI-Express-Controller30. November 2012 – National Instruments erweitert die PXI-Plattform um einen Controller für die Rackmontage, NI RMC-8355, und einen dezentralen PXI-Express-Controller, NI PXIe-PCIe8381. Der robuste 1-HE-Controller RMC-8355 für PXI- und PXI-Express-Systeme verfügt über bis zu zwei leistungsstarke Intel Xeon Prozessoren E5620 mit vier Kernen, aufgrund derer er sich bestens für Hochleistungsmess- und -prüfanwendungen sowie für ablaufkritische Prüf-, Steuer- und Regelanwendungen eignet. Evaluierung von Breitband-Wireless-Systemen29. November 2012 – Anritsu stellt eine Reihe von Softwarepaketen für die Signalanalysator-Baureihen MS269xA/ MS2830A und die Vektorsignalgenerator-Baureihen MG3710A/MG3700A vor. Die Software unterstützt Mobiltelefone der nächsten Generation (LTE-Advanced 4G) sowie WLAN-Komponenten mit IEEE802.11ac-Standard und erleichtert die Generierung und Messung der notwendigen Signale. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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