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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News18 Bit Messkarte mit voll-differentiellen, potentialfrei isolierten Kanälen27. November 2012 - Mit der neuen ME-5200 stellt Meilhaus Electronic die ersten A/D-Messkarten aus der ME-5000 cobalt Familie vor. Die Boards haben 8 analoge, voll-differentielle, simultane Eingangskanäle (individueller A/D-Wandler pro Kanal). Der A/D-Teil ist vom PC bis 500 V potentialgetrennt (Isolation mit separaten Massen). Die Varianten ME-526x bieten eine Auflösung von 16 Bit und erreicht je nach Modell Raten von 250 kS/s bis 2 MS/s. Die hochpräzisen ME-528x haben eine Auflösung von 18 Bit und erreichen Raten von 250 kS/s bis 1,6 MS/s. SDR-Modul für Forschung an 5G-Wireless-Technologie26. November 2012 – National Instruments bringt das RF-Transceiver-Adaptermodul NI 5791 für NI FlexRIO auf den Markt, das in mehreren aktuellen Forschungsprojekten zum 5G-Mobilfunkstandard eingesetzt wird. Das Modul stellt in Verbindung mit einem NI-FlexRIO-FPGA-Modul eine leistungsstarke SDR-Lösung (Software-Defined Radio) für vom Nutzer entwickelte Echtzeit-Verarbeitungsanwendungen dar. Dank Trigger-Mechanismen der PXI-Plattform können Anwender acht oder mehr Transceiver für MIMO- und Beamforming-Konfigurationen synchronisieren. Videotester unterstützt auch Tests an analogen Audio-/Video-Schnittstellen26. November 2012 — Rohde & Schwarz bringt ein analoges Messmodul für das R&S VTC Video Test Center, den R&S VTE Video Tester und den R&S VTS Compact Video Tester auf den Markt. So können Hersteller im Bereich Comsumer Electronic mit nur einem Messgerät sowohl neueste digitale Schnittstellen wie HDMI und MHL als auch klassische analoge Audio-/Video-Schnittstellen umfassend überprüfen. Überprüfung von Fotomasken der nächsten Generation auf Maskenfehler23. November 2012 - Advantest hat ein neues Messsystem für Maskenfehler entwickelt, das Mask DR-SEM E5610, welches ultrakleine Fehler bei Fotomasken erkennen und klassifizieren kann. Das E5610 nutzt die von Advantest entwickelte sehr stabile, vollautomatische Multi-Vision-SEM (Scanning Electron Microscope) Bilderfassungstechnologie für Fotomasken. Skalierbare LXI-Breitbandmatrix bis 500 MHz23. November 2012 - Mit der Einführung der modularen Breitbandmatrix 65-110 erweitert Pickering Interfaces erneut seine LXI Schaltlösungen. Die modulare Plattform 65-110 kann gleichzeitig bis zu 16 Mess- und Stimuli Kanäle auf der Y-Achse mit 16 aus maximal 104 möglichen X-Kanälen verbinden. Die nutzbare Bandbreite beträgt dabei 500 MHz. Für Anwendungen, bei denen weniger Y-Kanäle erforderlich sind, ist eine Variante mit nur 8 Y-Bus Leitungen erhältlich. Kontaktstift für Wegemessungen22. November 2012 – FEINMETALL hat eine Kontaktstift-Lösung entwickelt, mit der neben der elektrischen Kontaktierung des Prüflings auch eine Wegemessung realisierbar ist. Das Positions-Sensor-System besteht aus einem Federkontaktstift, einer Hülse und einem Positions-Sensor mit integriertem Potentiometer und ist dabei so schlank, dass es in ein gängiges 100 mil Raster eingebaut werden kann. Diese Lösung ist am Markt einzigartig und wurde zum Patent angemeldet. 100 Gbit/s Ethernet-Transceiver-Testlösung mit hoher Bandbreite22. November 2012 – Tektronix stellt das neue Phasen-Referenzmodul 82A04B für das Oszilloskop DSA8300 vor, das in Verbindung mit neuen elektrischen Sampling-Modulen einen typischen Instrumenten-Jitter von <100 Femtosekunden gewährleistet. Durch den sehr geringen Instrumenten-Jitter ist das DSA8300 damit das ideale Instrument für Design, Debugging und Charakterisierung von 100 Gbit/s Ethernet-Verbindungen mit bis zu 6 Kanälen, wie in der IEEE802.3ba und 32G Fibre Channel Testspezifikation definiert. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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