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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsNI VIP Technologiekongress: Künftig bestimmt der Anwender die Funktionalität der Messgeräte-Hardware26. Oktober 2012 – National Instruments verzeichnete beim diesjährigen Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis“ (VIP) am 24. und 25. Oktober eine Rekordbesucherzahl von mehr als 650 Teilnehmern. Der Kongress mit mehr als 110 Vorträgen und mehreren Keynotes, einer Fachausstellung, zahlreichen Workshops sowie einer Podiumsdiskussion fand bereits zum 17. Mal statt. Im Mittelpunkt standen Innovationen und Trends rund um die Mess- und Automatisierungstechnik. Interview: Wir wollen der führende, unabhängige und globale Partner für die Elektronikindustrie sein30. Oktober 2012 – Das belgische Unternehmen IPTE Factory Automation wurde vor 20 Jahren von fünf Ingenieuren gegründet und gehört heute zu den führenden Anbietern von Automatisierungslösungen für die Elektronikindustrie. Wir sprachen mit Vladimir Dobosch, Geschäftsführer und einer der Gründer, über die bisherige Entwicklung und die künftigen Pläne des Unternehmens. Semiautomatische Röntgeninspektion mit Verifikationsanbindung29. Oktober 2012 – Auf der electronica 2012 präsentiert Viscom das Röntgeninspektionssystem X8011 PCB mit neuer Anbindung an den Verifikationsplatz HARAN. Damit können die Analyseergebnisse sehr komfortabel verifiziert werden. Dabei können nicht eindeutige Fehler für eine zweite Detailkontrolle noch einmal automatisch angefahren werden. Boundary-Scan-Controller mit Wireless-LAN-Interface26. Oktober 2012 - GÖPEL electronic hat unter dem Namen SFX/WSL1149-(x) die weltweit erste Controller-Serie für Wireless LAN (WLAN) im Rahmen der Boundary-Scan-Hardware-Plattform SCANFLEX vorgestellt. Die neue Controller-Familie bietet ein Triple Stream/Dual Band WLAN-Interface mit theoretischen Übertragungsgeschwindigkeiten von bis zu 450 Mbps und ermöglicht den drahtlosen Einsatz neuester Embedded System Access (ESA) Technologien zum Testen, Programmieren und Debuggen komplexer Chips, Boards und kompletter Systeme. PXI–Schaltkarte für USB 2.0 Signale25. Oktober 2012 – Pickering Interfaces erweitert seine PXI USB Lösungen mit dem Modul 40-738. Das 1-Slot, 3 HE PXI Modul ermöglicht ein programmgesteuertes Schalten von USB Signalen über das PCI/PXI Interface. Dies können entweder zu prüfende Baugruppen mit USB-Schnittstelle sein oder auch andere USB-(Mess-)Geräte. Mit einem einzigen 40-738 Modul stehen 8 USB Kanäle, von denen jeder bis zu 0,5 A liefert, zur Verfügung. CSA GROUP eröffnet neues Testlabor in Deutschland25. Oktober 2012 – Die CSA Group, ein weltweit führender Anbieter von Produktzertifizierungen und Testdienstleistungen, hat ein neues Testlabor in Straßkirchen (Niederbayern) eröffnet. Dort werden EMV-, Sicherheits- und Umwelttests für für vollständige Produkte und Komponenten von Fahrzeugen, Elektrowerkzeugen, Gartengeräten, Multimediageräten, Haushaltsgeräten sowie andere Produktkategorien durchgeführt. Das neue Labor ist in unmittelbarer Nähe zu den Einrichtungen der emitel AG und der mikes testingpartners GmbH, die im letzten Jahr von der CSA Group übernommen wurden. Grafische Boundary-Scan-Projektentwicklung für Multi-Board-Designs24. Oktober 2012 - GÖPEL electronic hat in Kooperation mit der Firma ASTER Technologies eine neue Version der ScanVision -Tool-Suite zur Visualisierung von Boundary-Scan-Designs entwickelt. Die Weiterentwicklung löst das Problem der Visualisierung von Multi-Board-Designs auf Layout- und Schaltplan-Ebene und ermöglicht dadurch eine deutliche Verbesserung der Arbeitsproduktivität sowohl bei der Projektentwicklung als auch bei der Fehleranalyse in der der Produktion. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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