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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsASSET integriert ScanWorks in PXI Express-Geräte von Teradyne19. September 2012 – ASSET InterTech und Teradyne haben die JTAG- und Boundary-Scan-Test-Leistungsmerkmale der ASSET ScanWorks-Plattform für eingebettete Instrumentierung jetzt auch in das PXI Express-basierte High Speed Subsystem (HSSub) von Teradyne integriert. Bereits im letzten Jahr haben ASSET und Teradyne kooperiert, um ScanWorks in die VXI-basierten Di-Series-Geräte von Teradyne zu integrieren. Portabler Low Cost USB 2.0 Protokollanalysator18. September 2012 - Teledyne LeCroy erweitert sein Spektrum an USB Protokollanalysatoren um ein neues, kostengünstiges Gerät. Das Modell Mercury T2 ermöglicht die Analyse von Datenraten bis 480 Mbit/s (USB 2.0 High-Speed) und ist durch seine sehr kompakte Bauform und die Versorgung über den USB Bus (Bus powered) ideal für den mobilen Einsatz geeignet. Keithley erweitert SourceMeter SMU-Familie um drei neue Modelle18. September 2012 - Keithley Instruments hat seine System-SourceMeter SMU-Instrumente (Source Measurement Unit) der Serie 2600B um drei neue kostengünstige Geräte für Benchtop-Anwendungen und den Einsatz in Forschung und Entwicklung erweitert. Neue Funktionen ermöglichen höhere Produktivität und einfachere Bedienung. Die SMU-Instrumente zeichnen sich durch eine 6-1/2-stellige Auflösung, eine Software-Emulation der etablierten SourceMeter-Instrumente Modell 2400 von Keithley und eine USB 2.0 Schnittstelle aus. Boundary Scan-Controller für PXIe/Compact PCI Express17. September 2012 - JTAG Technologies erweitert seine Produktpalette der Boundary Scan IEEE Std. 1149.1 Controller. Die neue DataBlaster JT 37x7/PXIe Karte unterstützt das zunehmend populäre PXIe/Compact PCI Express Steckkartenformat, das in modernen automatischen Testsystemen zum Einsatz kommt. JTAG Technologies hat den neuen Boundary Scan-Controller speziell für die immer häufiger durchgeführte schnelle In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern, seriellen Speichern und CPLDs sowie den Test von komplexen digitalen Schaltungen entwickelt. Seminar zum Thema ESD-Evaluation in automatisierten Prozessen14. September 2012 - RoodMicrotec veranstaltet am 16. Oktober (Deutsch) und 17. Oktober (Englisch) in Stuttgart ein Seminar zu dem Thema ESD-Evaluation in automatisierten Prozessen. Die Thematik des ESD-Schutzes verlagert sich in zunehmendem Maße von Arbeitsplätzen in die automatisierten Prozessanlagen. Die darin verbreitete Verwendung moderner Kunststoffe und gleichzeitig – durchsatzbedingt – beschleunigt ablaufenden Prozesse, erzeugen hohe statische Spannungen. Aktiver Differenztastkopf für Hochvolt-Oszilloskop-Messungen14. September 2012 - Yokogawa ergänzt mit dem neuen, aktiven Differenztastkopf Modell 701927 für potentialfreie Hochvoltmessungen seine Tastkopf-Produktpalette. Der Tastkopf eignet sich für die Mixed-Signal-Oszilloskope der Serie DLM2000 und andere Messgeräte, die mit der Yokogawa Tastkopf-Schnittstelle ausgestattet sind. Leistungsfähige Chip-Handler ermöglichen maximale Tester-Auslastung13. September 2012 - Durch den Einsatz hochparalleler Baustein-Handling-Systeme können Testeinrichtungen maximal ausgelastet werden. Baustein-Handler kontaktieren im Rahmen des Testprozesses die einzelnen Bausteine auf dem Prüfadapter. Zusätzlich übernimmt er wichtige Aufgaben wie das thermische Konditionieren der Bausteine, die elektrostatische Produktsicherheit während des Testablaufs und die anschließende Sortierung in die kundenspezifisch festgelegten Testkategorien. ADVANTEST bietet neben dem erforderlichen Tester auch den optimal abgestimmten Handler zur Vervollständigung einer Testzelle. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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