Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Schnellere Entwicklung von Boundary-Scan-Tests

XJTAG v38 21. November 2018 – XJTAG, ein Anbieter von JTAG-Boundary-Scan-Hard- und Softwarelösungen, hat seine JTAG-Testsoftware deutlich erweitert und verbessert. Der Waveform Viewer ist ab sofort in XJDeveloper verfügbar und verbessert die Nutzererfahrung. Der Layout Viewer wurde vollständig überarbeitet, die Algorithmen zur Analyse der Testabdeckung wurden verbessert.

Kooperation von ENGMATEC und Rehm bei Temperaturtests

Engmatec Rehm 20. November 2018 - Um Leib und Leben von Fahrzeuginsassen zu schützen, kommt Kalt- und Warmfunktionstests von Elektronikbaugruppen in Automobilen eine große Bedeutung zu. Zwei Spezialisten auf diesem Gebiet, ENGMATEC und Rehm Thermal Systems, kooperieren seit Kurzem miteinander und und bieten eine Kombination der Testautomatisierung von ENGMATEC mit den Securo-Testsystemen von Rehm an.

Bidirektionale und regenerative DC-Stromversorgungen

CME ITech SV 19. November 2018 - Neu im Portfolio von CompuMess Elektronik (CME) sind die Zwei-Quadranten-Stromversorgungen der Serie M3600 von ITech Electronics. Die Serie bietet eine Kombination aus einer DC-Quelle/Senke, somit bidirektional, bei nahtlosem Nulldurchgang des Stromes in den Senkbetrieb, die aber auch zu einer Nur-DC-Senke umgeschaltet werden kann.

Federkontakt mit integrierter Temperatur-Messfunktion

uwe Thermo Federkontakt 16. November 2018 - uwe electronic stellt mit den Federkontakten 100895-002 und 100895-000 eine vielseitig verwendbare Temperatur-Messfunktion zur Verfügung. Der Thermoelement-Kontakt kann sich durch seinen Aufbau als Federkontakt problemlos an unterschiedliche Oberfläche anpassen. Zudem wird immer ein gleichmäßiger Anpressdruck am Prüfling gewährleistet.

Elektrische Kontaktierung mit integrierter Dichtheitsprüfung

Tekon Dichtigkeitstest3 15. November 2018 - Tekon Prüftechnik stellt auf der electronica 2018 einen Prüfadapter mit integrierter Dichtheitsprüfung vor. Dieser ermöglicht parallel zur elektrischen Prüfung eine Dichtheitsabfrage mittels verschiedener Prüfmethoden. Die Adapter sind für die Fertigung von elektrischen und elektronischen Komponenten zum Beispiel für den Einsatz bei Automobilen, Haushaltsgeräten und im Hochspannungsbereich geeignet. Die parallele Prüfung spart Taktzeit und verringert den benötigten Bauraum.

Leistungsfähige und flexible Testprogrammierstation

Seica Pilot V8 NEXT 14. November 2018 - Seica zeigt auf der electronic in München in Halle A3.459 seine neue VIVA Next-Software für die Testprogrammerstellung. Im Technologiebereich des Standes sind mehrere Test- und Programmierstationen der Seica Mini-Linie zu sehen, an denen die Leistungsfähigkeit der 64-Bit-VIVA Next-Software und das Konzept der offenen Architektur präsentiert wird.

Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs

13. November 2018 – Advantest hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt, der den Chiphersteller exakte Messungen erlaubt, die bei der Prozess-Charakterisierung und -überwachung bei Prozesstechnologien von 28 nm bis 3 nm erforderlich sind. Dank der für parametrische AC-Tests konzipierten Per-Pin Quellen-Messeinheiten (engl. SMU) kann das System die Timing- und elektrischen Eigenschaften jedes Pin-Bauteils rasch messen und verifizieren. Dies ermöglicht eine kosteneffizientere Herstellung und schnellere Markteinführung neuer IC-Designs.

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