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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikTechnologietag zum Thema automatisierter Test13. April 2011 - Konrad Technologies und National Instruments veranstalten gemeinsam mit weiteren Partnerfirmen am 12. Mai 2011 zum zehnten Mal den ATE-Technologietag mit Themen rund um den automatisierten Test von elektronischen Bauteilen und Baugruppen. Der ATE-Technologietag findet in diesem Jahr in Sindelfingen statt. Der ATE-Technologietag bietet in zwei parallelen Vortragsreihen zu den Themen Funktionstest, In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test sowie mechanischen Handling-Systemen umfangreiche Informationsmöglichkeiten. Einen speziellen Stellenwert nehmen die Themen HF-Test und Halbleitertest ein. Hier werden beispielsweise die vielseitigen Einsatzmöglichkeiten des „Zero Footprint" Halbleitertestsystems KT-7000 FINN, das auf FPGA-Technologie im PXI / ABex Formfaktor basiert, in der Prozesskontrolle, der Device-Entwicklung und Charakterisierung sowie im Wafer-Sort und Final Test aufgezeigt. In den Pausen, im Anschluss an die Vorträge und während der Podiumsdiskussion haben die Teilnehmer die Möglichkeit mit Experten und Fachkollegen zu diskutieren. Eine begleitende Ausstellung von führenden Firmen der Branche ermöglicht tieferen Einblick in realisierte Projekte und verwendete Technologien. www.konrad-technologies.deWeitere News zum Thema: |
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