News - Allgemeine Test- und Messtechnik
Neue High-Performance Oszilloskop-Familie von Yokogawa
26. Oktober 2009 - Yokogawa stellt eine neue Familie von digitalen Speicheroszilloskopen mit umfangreichen Analysemöglichkeiten und Mixed-Signal-Funktionen vor. Das Mixed-Signal-Oszilloskop DLM6000 ist das Flaggschiff der neuen Familie.
Die High-Performance-Geräte bieten bis zu 1,5 GHz Bandbreite, Speicherung von 6,25 Millionen Messpunkten pro Kanal, eine intuitiv zu bedienende grafische Benutzeroberfläche und eine Reihe von fortschrittlichen Analysemöglichkeiten. Die neue Oszilloskop-Familie umfasst fünf vierkanalige Modelle: Zwei Mixed-Signal-Oszilloskope DLM6000 mit 16 oder 32 Logikkanälen und Bandbreiten von 500 MHz und 1 GHz sowie drei Modelle DL6000 mit Bandbreiten von 500 MHz, 1 GHz und 1,5 GHz. Der maximale Samplingrate der 1,5 GHz Version DL6154 liegt bei 10 GS/s; für alle anderen Versionen bei 5 GS/s. Die maximale Bitfolgefrequenz der 16- oder 32-bit-Logikeingänge beträgt je nach Tastkopftyp 250 MHz oder 100 MHz. Yokogawa bietet die neue Oszilloskop-Familie zu attraktiven Preisen an. Das DLM6054 zum Beispiel gibt es mit 16 Logikeingängen und zwei 100 MHz Logiktastköpfen ab 10.900 Euro.
Die neue Benutzeroberfläche entstand aufgrund eingehender Marktuntersuchungen und Berücksichtigung detaillierter Rückmeldungen von Benutzern. Eine neue Frontplatte mit hinter-leuchteten Tasten, neue visuelle Elemente auf dem Display wie gestaffelte Menüs und innovative Bedienelemente wie der Yokogawa-eigene Drehknopf vereinfachen die Bedienung. Trotz der einfachen Bedienung bieten die Oszilloskope umfangreiche Möglichkeiten zur Charakterisierung von Kurvenformen, effiziente Tools zum Erkennen von flüchtigen Impulsen und Anomalien, fortschrittliche Techniken zur Signalaufbereitung und Rauschreduktion sowie eine Reihe von Optionen für die Analyse von seriellen Bussen und für Leistungsmessungen. Durch die Kombination von 32 Logikkanälen mit vier Analogkanälen hoher Bandbreite eignen sich die Mixed-Signal-Modelle besonders für Tests und Fehlersuche in Embedded-Systemen, wobei die Windows-Fähigkeit und eine Reihe von Software-Treibern die Integration in automatische Testsysteme erleichtern.
www.tmi.yokogawa.com/de
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