Elektronische DC-Lasten mit integriertem Messsystem 

16. Oktober 2012 - Syntel Testsysteme hat eine neue, modulare Last mit integriertem Messsystem von NH-Research in ihr Vertriebsprogramm aufgenommen. Mit dieser Lösung kann eine parallele Tester-per-Last Architektur realisiert werden, die Vorteile bei Prüflingen mit vielen Ausgängen oder der parallelen Prüfung einzelner Geräte bietet. Im 19" Gehäuse mit 16 Einbauplätzen können einzelne programmierbare DC Lasten mit 150/300/600W, bis 500V und Strömen von 30/60/120A, beliebig bis 2400W konfiguriert werden. Jede Last ist mit einem Messsystem mit digitalen Waveform Analyzer für Strom und Spannung ausgerüstet.

Diese Technik ersetzt externe Geräte wie DMM, Oszilloskop und Multiplexer mit der zugehörigen Verkabelung. Außerdem ist eine parallele Abfrage aller Ausgänge möglich, dies ergibt präzisere Aussagen über die Reaktion des Prüflings und schnellerem Durchsatz in der Fertigungsprüfung. Jede Last ermöglicht neben der graphischen Darstellung von Strom und Spannung, 20 weitere Standard-Messungen wie Power, Peak/Peak Noise (20MHz), Rise/Fall Time, Over-/Undershoot usw., digitale Ausgänge liefern Start/Stop/Trigger Signale für andere externe Geräte. Neben den Betriebsarten konstant Strom/Spannung/Leistung/Widerstand ist auch ein non-linear LED-Driver Mode und ein Maximum Power Point Tracking (MPPT) Mode für Solar Panels integriert. Die zugehörige Software erlaubt die Programmierung aller Parameter, andere Einstellungen und die Abfrage der Messwerte über ein graphisches Interface. Die Steuerung mit einem PC erfolgt über LAN Schnittstelle mit LabView oder anderen IVI-Com und IVI-C kompatiblen Sprachen.