|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und Messtechnik
Größerer Speicher und neue Funktionen für Yokogawa Oszilloskope16. Juli 2014 - Yokogawa hat seine Mixed-Signal-Oszilloskope der Serie DLM2000 mit einem größeren Erfassungsspeicher und einer Reihe von Firmware-Verbesserungen ausgestattet. Der Erfassungsspeicher ist jetzt standardmäßig 62,5 MPunkte groß und lässt sich bis auf 250 MPunkte erweitern. Mit dem maximal installierten Speicher (Option /M3) lässt sich im Single-Shot-Modus dadurch ein 10 kHz Signal mit einer Messdauer von mehr als einer Stunde erfassen. Zudem ist auch die Kapazität des Flash-Speichers von 0,1 GByte auf 0,33 GByte erhöht und die Größe des optionalen Speichermediums auf 7,2 GByte erweitert worden. Auch der History-Speicher erhielt eine Reihe von Verbesserungen. Die History-Funktion legt automatisch vergangene Messungen im Erfassungsspeicher ab und kann diese anschließend einzeln oder akkumuliert wiedergeben. Mittels Such-und Messfunktionen lassen sich ungewöhnliche oder fehlerhafte Signale schnell isolieren und analysieren, ohne langwierig Triggerbedingungen zu konfigurieren. Zu den Verbesserungen zählen:
Yokogawa bietet einige Optionen als Software-Update an, die nachträglich bestellt und eigenständig vom Kunden installiert werden können. Diese Optionen sind auch als Testversion für 30 Tage verfügbar, somit kann die gewünschte Option vorab mit der eigenen Applikation getestet werden.
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |