Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Allgemeine Test- und Messtechnik

Tektronix erweitert 70 Ghz Oszilloskope mit seriellen Testmöglichkeiten

Tektronix Serial DPO70000SX03. Juni 2016 - Tektronix unterstützt mit den neuen Hochleistungsoszilloskopen der DPO70000SX Familie jetzt auch den Test von seriellen Bussen. Die DPO70000SX Plattform zeichnet sich durch die patentierte ATI-Signalerfassungstechnologie (Asynchronus Time Interleaving) aus, welche die derzeit höchste Signalwiedergabequalität und Leistung gewährleistet. In Verbindung mit der skalierbaren Architektur bietet sie zudem Erweiterungsmöglichkeiten, wenn die Signalgeschwindigkeiten künftig weiter steigen.

Da sich die Entwicklungsteams bei den schnell wachsenden Bereichen Cloud-Computing und Mobilfunk bereits auf die Standards der nächsten Generation vorbereiten, benötigen sie eine Messplattform, mit der sich äußerst konsistente und präzise Messungen bei Signalen mit hohen Datenraten durchführen lassen. Um diese Anforderungen erfüllen zu können, unterstützt Tektronix jetzt mit der DPO70000SX Serie den Test serieller Bus-Standards der 4. Generation, wie USB 3.1, Thunderbolt über USB Type-C, PCIe Gen4 und DDR4. Diese neue Oszilloskop-Familie bietet eine extrem hohe Signalwiedergabequalität, die eine genaue Margin-Analyse bei den seriellen Bussen der 4. Generation mit Datenraten von mehr als 10 Gb/s ermöglicht.

Außerdem bringt Tektronix sein breites Portfolio von Anwendungslösungen in die DPO70000SX Familie ein. Dieses Portfolio umfasst mehr als 50 Lösungen für Konformitätstests auf PHY-Ebene sowie die Charakterisierung und das Debugging von Unternehmens-, Datenkommunikations-, Mobilfunk- und Display-Anwendungen. Die Lösungen für die Standards der 3. und 4. Generation bieten Fähigkeiten, wie automatisierte Einrichtung und Ausführung von Tests, integrierte Report-Funktionen, detaillierte Analysen und mehr.

"Da der Bereich Enterprise Computing bei den seriellen Standards inzwischen von der 3. Generation auf die 4. Generation umsteigt, benötigen unsere Kunden Oszilloskope mit entsprechender Genauigkeit, Fähigkeiten und Skalierbarkeit, um diesen Übergang nahtlos durchführen zu können", sagt Brian Reich, General Manager Performance Oscilloscopes bei Tektronix. "Mit der skalierbaren DPO70000SX Architektur können unsere Kunden mit 23 oder 33 GHz Modellen beginnen. Durch die vorhandenen Erweiterungsmöglichkeiten können sie aber ihre Testinvestition schützen, wenn sie für den Test von Standards der nächsten Generation Bandbreiten von 50 GHz und mehr benötigen."

www.tektronix.com/



Aktuelle Termine

VIP 2017
18. bis 19. Oktober 2017
zur Terminübersicht...
eMove360 - 2017
18. bis 20. Oktober 2017
zur Terminübersicht...
productronica 2017
14. bis 17. November 2017
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px