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News - Allgemeine Test- und Messtechnik

Revolution bei der Bildschirm-Charakterisierung

Polytec-Eldim13. Dezember 2013 - Polytec bietet die Display-Charakterisierungssysteme des französischen Herstellers Eldim an. Herkömmliche Methoden benötigen für die Bildwinkel-Charakterisierung eines Displays durch tausende Messungen meist mehrere Stunden. Die Technik der EZContrast-Modellreihe erlaubt dies mit einem neuen Verfahren innerhalb von 30 Sekunden.

Herkömmliche Methoden der Display-Charakterisierung scannen mechanisch, wobei die Oberfläche eines Bildschirms Punkt für Punkt gerastert, oder mit Hilfe eines Goniometers Winkel für Winkel vermessen wird. Für die Bildwinkel-Charakterisierung benötigt man dabei ca. drei Stunden für 6500 Einzelmessungen. Der Azimut von 360° wird dabei in 5°-Schritten und der Beobachtungswinkel in 2°-Schritten im Bereich von ± 88° durchlaufen.

Die Technik der EZContrast-Modellreihe ändert die Art und Weise der Messung radikal. Dank der eingesetzten Fourier-Optik-Methode werden innerhalb von 30 Sekunden 350.000 Messpunkte mit einer Azimut- und Einfallswinkelauflösung von 0,3° gemessen. Die Eigenschaften eines Bildschirms werden also viel schneller und mit einer deutlich höheren Auflösung erfasst. Dabei erfasst der Sensor Parameter wie Farbe, Kontrast, Reflexionsgrad beziehungsweise BRDF (bidirektionale Reflektanzverteilungsfunktion, eine Funktion für das Reflexionsverhalten von Oberflächen), Polarisation und Strahldichte - durch hochwertige, selbst gefertigte Optiken und gekühlte CCD-Sensoren in hervorragender Genauigkeit.

Darüber hinaus lassen sich die Eigenschaften von Bildschirmen unter verschiedenen Lichtverhältnissen analysieren indem die Systeme mit einer Durchlicht- oder reflektierenden Beleuchtung ausgerüstet werden.

Eine offene Software-Plattform ermöglicht die Integration in Test- und Produktionssysteme sowie automatisierte Messungen und Analysen.

www.polytec.de/



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