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Allgemeine Test- und Messtechnik

SMU mit hoher Geschwindigkeit, Kanaldichte und Flexibilität

NI-PXIe-413906. März 2014 – National Instruments erweitert mit der System Source Measure Unit (System-SMU) NI PXIe-4139 sein SMU-Produktportfolio. Das NI PXIe-4139 beinhaltet die Technologie NI SourceAdapt, dank derer der Anwender das Regelverhalten der SMU an die zu prüfende Last anpassen kann. Prüflinge werden dadurch geschützt und die Systemstabilität verbessert. Zusätzlich kann die System-SMU NI PXIe-4139 Messungen bei 1,8 MS/s durchführen und ist somit um den Faktor 100 schneller als traditionelle SMUs.

Dies ermöglicht reduzierte Prüfzeiten, zudem lässt sich das Transientenverhalten des Geräts ohne zusätzliche Messgeräte, z .B. Oszilloskop, erfassen.

„Mit dem NI PXIe-4139 stehen Ingenieuren und Wissenschaftlern höhere Strom- und Spannungsbereiche zur Verfügung. Darüber hinaus besitzt das Messgerät eine erweiterte Impulsbereichsfunktion mit bis zu 500 W und eine Messempfindlichkeit von bis zu 100 fA. Dies ermöglicht es, eine ganze Reihe von Prüflingen mit nur einem einzigen Messgerät zu testen“, erklärt Luke Schreier, Senior Group Manager of Test Systems bei National Instruments. „Die kompakte Bauform des NI PXIe-4139 spielt ebenfalls eine wichtige Rolle. Der Platzbedarf des Systems ist im Vergleich zu früheren Stand-alone-SMUs deutlich geringer.“

Wichtige Funktionen:

  • Empfindlichkeit bei Strommessungen von 100 fA: Präzises Beurteilen leistungsstarker Halbleiterelektronik
  • Sample-Rate von 1,8 MS/s: Erfassen des Transientenverhaltens des Prüflings ohne zusätzliches Oszilloskop
  • Bis zu 17 SMU-Kanäle in einem Formfaktor von 4 HE mit 19 Zoll: Minimieren des Platzbedarfs für Systeme mit hoher Kanalzahl
  • NI SourceAdapt: Reduzieren von Transientenzeiten zur Verbesserung der Gesamttestzeit und zum Schutz des Prüflings vor Überschwingen und Oszillation, sogar bei hochinduktiven oder kapazitiven Lasten

www.ni.com/



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