|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und Messtechnik
PXI-Solid-State-Schaltkarten für bis zu 25 Ampere05. Januar 2015 - Pickering Interfaces, ein Hersteller modularer Schalt- und Signalkonditionierungssysteme, erweitert seine PXI-Produktpalette um zwei neue High Power Solid-State-Schaltmodule. Das PXI 25A Solid-State SPST (40-184) Modul enthält 3 oder 6 einpolige Solid-State Schalter für Signale bis zu 25 A und 100 V. Das PXI 1.5 A Solid-State SPST (40-185) Modul bietet 3 oder 6 einpolige Solid-State Schalter für Signale bis zu 1,5 A und 400 V. Die beiden neuen Schaltlösungen basieren auf isolierter MOSFET-Technologie. Sie eignen sich für das Schalten von AC- oder DC-Signalen mit sehr hohen Leistungen ohne Beeinträchtigung der Lebensdauer, solange sie innerhalb der technischen Spezifikation betrieben werden. Die Schaltzeit beträgt <250 us, Kontaktprellen ist nicht vorhanden. Höhere Einschaltströme haben keinerlei Einfluss auf die Lebensdauer. Diese Schaltkarten sind besonders gut für PXI-Anwendungen geeignet, bei denen Signale mit höheren Strömen und Leistungen erforderlich sind. Typische Applikationen sind z. B. Tests für Produkte bei Transportsystemen, bei denen mechanische Relais (EMR) aufgrund der Schaltleistungen nicht eingesetzt werden können. Die 3-SPST Varianten belegen einen 3U PXI-Steckplatz während die 6-SPST zwei 3U PXI-Steckplätze belegen. Jede Karte ist mit robusten Hochleistungs-Sub-D Steckern ausgestattet. Pickering bietet dazu eine große Auswahl von individuellen Kabel- und Steckerlösungen an. Für Anwender, die eine Ethernet-Anbindung bevorzugen, können beide Module in modulare LXI-Chassis von Pickering eingesetzt werden. Alle Pickering PXI Module werden mit einer 3-jährigen Garantie und einer Langzeitverfügbarkeit ausgeliefert. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |