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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-Test
PlugIns und App erweitern Messsoftware für mobile Messanwendungen05. Juni 2014 – IPETRONIK hat die Version 2014 R1.1 der IPEmotion Messsoftware mit einer Vielzahl neuer PlugIns erweitert. In Kooperation mit der österreichischen Firma PMR (Prozess Mess-und Regeltechnik GmbH) wurde zum Beispiel ein neues PlugIn zur Einbindung von Wärmebildern von Infrarotkameras der Firma Optris entwickelt. Weiterhin wurden in Zusammenarbeit mit Technimedia zwei neue PlugIns zur Integration von Modbus-Protokollen über serielle und LAN-TCP/IP Schnittstellen sowie die Einbindung von OPC-Servern realisiert.
Bitfehlerraten-Tester für optische 100Gbit Empfänger28. Mai 2014 - Tektronix stellt den neuen Bitfehlerraten-Tester BERTScope BSA286CL vor. Der BSA286CL zeichnet sich durch einen sehr geringen Eigenjitter und präzise Jittererzeugung aus, die für eine Prüfung unterschiedlicher 100Gbit Kommunikationsstandards, wie OIF-CEI, CAUI und InfiniBand, erforderlich sind.
Umfangreiche Test- und Debugging-Funktionen für AUTOSAR-Steuergeräte27. Mai 2014 – Das AUTOSAR-Basis-Softwarepaket MICROSAR AMD (AUTOSAR Monitoring und Debugging) von Vector bietet nach vollständiger Überarbeitung umfangreiche Test- und Debug-Funktionen für AUTOSAR-Steuergeräte. Das Paket enthält sowohl die in AUTOSAR 4.x definierten Module „Diagnostic Log and Trace“ und „Debugging“ als auch die nützliche Erweiterung „Runtime Measurement Modul“.
Programmierung und Test nichtflüchtiger Speicher in der Fertigung über Boundary Scan23. Mai 2014 - GÖPEL electronic gibt die Erweiterung des In-Line-Produktionssystems RAPIDO bekannt. Die neuen Features ermöglichen einen noch höheren Produktionsdurchsatz sowie die Minimierung von Fehlern bei Test und Programmierung in der Produktion. Systeme der RAPIDO-Familie erlauben eine beidseitige Kontaktierung mit bis zu 3000 Nadeln bei 32 Sites zur In-Line-Programmierung nichtflüchtiger Speicher wie Flash, MicroController (MUC) und Programmable Logic Devices (PLD).
Testumgebung für Prozessoren von Analog Devices22. Mai 2014 - Die neue Version von TESSY, dem Werkzeug zum automatisierten Modul-, Unit- und Integrationstest von eingebetteter Software von Hitex, unterstützt erstmals CrossCore Embedded Studio (CCES) von Analog Devices für die Prozessorfamilien Blackfin und SHARC.
Boundary Scan Technologie für In-Circuit-Tester von Digitaltest20. Mai 2014 - GÖPEL electronic hat zusammen mit der Firma Digitaltest JTAG/Boundary Scan Lösungen auf der Basis des SFX-TAP6 Moduls zur Integration in die In-Circuit-Tester (ICT) der MTS-Serie von Digitaltest vorgestellt. Durch diese Technologie lassen sich Design-Validierungen, Hardware Debugging, Produktionstests, sowie die Programmierungen von Flash und PLD ohne den Einsatz eine Adaptierung über Nadelbettadapter realisieren.
Kostenlose Workshops zu Funktionstest und elektrischem Sicherheitstest20. Mai 2014 - Unter dem Titel „Going global - Funktions- und elektrischer Sicherheitstest international“ veranstaltet LXinstruments in Zusammenarbeit mit weiteren Unternehmen und Organisationen eine kostenlose Workshop-Reihe. Diese ist besonders für international agierende Unternehmen interessant. Als Spezialist für internationale Zertifizierungsfragen nimmt die kanadische CSA Group an dem Workshop teil. Das CSA-Prüfzeichen erscheint weltweit bereits auf mehr als einer Milliarde von Produkten. Weitere Beiträge ...
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