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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-Test
Mehrkanaliger Bit-Error-Rate-Test mit FPGA Embedded Instruments26. März 2014 - GÖPEL electronic hat neue Funktionen für einen parallelen Multi-Channel Bit Error Rate Test (BERT) mit seiner IP-basierenden ChipVORX-Technologie entwickelt. Die hochautomatisierte Lösung ermöglicht den Einsatz von FPGA Embedded Instruments in Form von speziellen Softcores zum Test und zur Design-Validierung von Multi-Channel Highspeed-I/O und seriellen Bussystemen wie z.B. PCI Express x2/x4/x8/x16. Anwender können dadurch die Qualität der Übertragungskanäle über parallele Messungen der Bitfehlerrate auf allen Kanälen gleichzeitig beurteilen.
BER-Testlösungen für Design-Verifikation von schnellen Digitalsystemen21. März 2014 - Agilent Technologies präsentiert die hochintegrierten, skalierbaren BER-Testlösungen der Familie M8000 für die Charakterisierung, Validierung und Konformitätstest der Physical-Layer von Empfängern für Multigigabit-Digital-Designs. Die neue BER-Testlösung M8000 unterstützt eine Vielzahl von Datenraten und Standards; sie liefert genaue und verlässliche Ergebnisse, die eine schnelle Analyse der Leistungsreserven von Hochgeschwindigkeitsdigitaldesigns für Computer, Consumerprodukte, Server, mobiles Computing und Datencenter-Produkte ermöglichen.
Messung der Abstrahlcharakteristik von großen Leuchten19. März 2014 – Mit dem LGS 1000 von Instrument Systems lassen sich Abstrahlcharakteristiken von großen LED-Modulen, Solid-State-Lighting (SSL) Produkten sowie Lampen und Leuchten winkelabhängig bestimmen. Das LGS 1000 kann sowohl zusammen mit einem Photometer als klassisches Goniophotometer als auch mit einem Spektrometer als hochwertiges Goniospektralradiometer betrieben werden. Auf diese Weise ist es in der Lage, alle wichtigen Kenngrößen wie Lichtstärkeverteilungen, Lichtstrom, Farbkoordinaten und sogar den Farbwiedergabeindex zu bestimmen.
EMV-Tests an Multimediageräten nach der neuen CISPR 3518. März 2014 — Noch in diesem Frühjahr soll die EMV-Norm CISPR 35 verabschiedet werden. Sie schreibt vor, wie Multimedia-Equipment künftig mit Störsignalen getestet werden soll. Die neue CISPR 35 wird die bisher gültigen EMV-Testnormen für Geräte und Komponenten aus dem IT-Bereich (CISPR 24) und aus dem Consumer-Elektronik-Bereich (CISPR 20) vereinen. Rohde & Schwarz wird mit der Verabschiedung des Standards die Option R&S EMC32-K35 für seine EMV-Testsoftware R&S EMC32 auf den Markt bringen.
40 Gigabit BERT für Test von Datenkommunikation18. März 2014 - Tektronix hat den ersten voll integrierten programmierbaren Pattern-Generator (PPG) für 40 Gigabit der Industrie vorgestellt. Dieser ermöglicht zusammen mit dem kürzlich vorgestellten 40G-programmierbaren Fehlerdetektor nun eine vollständige BERT-Lösung für Datenraten bis zu 40 Gigabit pro Sekunde. Mit 200 fs Random Jitter (RJ) und einer Anstiegszeit von 8 ps bietet der neue Tektronix PPG4001 die für einen Test serieller Daten mit 40 Gbit/s notwendige Leistung und Signalqualität. SO-DIMM Testsockel für DDR2 und DDR314. März 2014 – Mit den neuen Serien CN111S und CN112S bringt Yamaichi Testsockel für DDR2 bzw. DDR3 SO DIMM-Speichermodule für den Produktions- sowie Burn-in-Test auf den Markt. Speziell für Module, die der DDR2 (Double Data Rate) Norm in der Version SO-DIMM (Small Outline Dual Inline Memory Module) entsprechen, wurde der Sockel CN111S entwickelt. Es handelt sich dabei um eine 200-polige 1,8V Version mit einer Bauhhöhe von 5,2mm. Die Kontakte sind standardmäßig goldplatiert.
GÖPEL electronic und Scienscope kooperieren bei Röntgeninspektion14. März 2014 - GÖPEL electronic erweitert sein Röntgensystem-Portfolio durch eine strategische Kooperation mit Scienscope International, einem amerikanischen Hersteller von optischer Messtechnik und halbautomatischen Röntgen-Analysemaschinen. Mit dem wartungsfreien 2,5D-Analysesystem Scope-Line MX von Scienscope kann GÖPEL electronic seinen Kunden damit einen kosteneffizienten Einstieg in die Welt des Röntgens anbieten. Weitere Beiträge ...
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